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J-GLOBAL ID:200903067876676144

光イメージング装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 伊藤 進
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000078743
Publication number (International publication number):2001264246
Application date: Mar. 21, 2000
Publication date: Sep. 26, 2001
Summary:
【要約】【課題】 高SNで高速なリファレンス走査手段を有すると共に、干渉系を安価に構成する。【解決手段】 低コヒーレンス光が光カプラ3から光カプラ6を経由し光走査プローブ20を通り、生体組織の観察点257から反射され再び光カプラ6に戻り、第4のSMF13を通り光カプラ14に至る光路の光遅延時間と、光カプラ3から透過型ディレイライン9を経由し光カプラ14に至る光路の光遅延時間の差に対応する光路長差がコヒーレント長以内になると干渉を生じる。その干渉信号をディテクタ17、18、差動アンプ23、復調器24、ADコンバータ25によりコンピュータ27に取り込む。
Claim (excerpt):
被検体に低コヒーレンス光を照射し、前記被検体において散乱した光の情報から前記被検体の断層像を構築する光イメージング装置において、前記低コヒーレンス光を被検体に照射し、前記被検体よりの反射光を受光する光照射受光手段と、前記光照射受光手段と接続し、前記被検体から戻ってきた前記低コヒーレンス光と基準光とを干渉させるとともに、干渉位置を光軸に対し軸方向に走査するため、その走査範囲に対応した伝搬時間を変化させる伝搬時間変化手段と、干渉光強度を干渉信号として検出する光検出器とを有し、前記光照射受光手段がマッハツエンダー干渉系の光路の片側に、前記伝搬時間変化手段が前記マッハツエンダー干渉系のもう一方の光路に設けられ、前記伝搬時間変化手段が透過光学素子による光走査を用いて伝播時間を変化させることを特徴とする光イメージング装置。
IPC (6):
G01N 21/17 620 ,  G01N 21/17 630 ,  A61B 10/00 ,  G01B 9/02 ,  G01B 11/24 ,  G01N 21/45
FI (6):
G01N 21/17 620 ,  G01N 21/17 630 ,  A61B 10/00 E ,  G01B 9/02 ,  G01N 21/45 A ,  G01B 11/24 D
F-Term (64):
2F064AA09 ,  2F064EE04 ,  2F064FF02 ,  2F064FF06 ,  2F064FF07 ,  2F064GG03 ,  2F064GG04 ,  2F064GG13 ,  2F064GG20 ,  2F064GG24 ,  2F064GG33 ,  2F064GG38 ,  2F064GG42 ,  2F064GG49 ,  2F064GG70 ,  2F064JJ05 ,  2F065AA52 ,  2F065CC16 ,  2F065DD04 ,  2F065DD06 ,  2F065FF48 ,  2F065FF49 ,  2F065GG06 ,  2F065GG23 ,  2F065GG24 ,  2F065LL02 ,  2F065LL13 ,  2F065LL20 ,  2F065LL22 ,  2F065LL30 ,  2F065LL33 ,  2F065LL36 ,  2F065LL42 ,  2F065LL47 ,  2F065LL57 ,  2F065QQ11 ,  2G059AA05 ,  2G059AA06 ,  2G059BB12 ,  2G059EE02 ,  2G059EE05 ,  2G059EE09 ,  2G059FF01 ,  2G059GG02 ,  2G059GG03 ,  2G059GG04 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ12 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ18 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ20 ,  2G059JJ22 ,  2G059JJ30 ,  2G059KK01 ,  2G059LL02 ,  2G059MM08 ,  2G059MM09 ,  2G059MM13 ,  2G059NN06
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3) Cited by examiner (3)
Article cited by the Patent:
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