Pat
J-GLOBAL ID：200903068083193521

分岐体のCPR画像表示処理方法、分岐体のCPR画像表示処理装置及びプログラム

Inventor：
松本 和彦

About 松本 和彦

, 
中川 修

About 中川 修


Applicant, Patent owner：
ザイオソフト株式会社

About ザイオソフト株式会社


Agent (2)： 恩田 博宣 ,  恩田 誠
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002282251
Publication number (International publication number)：2004113537
Application date： Sep. 27, 2002
Publication date： Apr. 15, 2004
Summary：
【課題】分岐体の複数の枝を一つの画像に表現できるとともに、各枝の交差または重なりの部分も正確に表現できる分岐体のCPR画像表示処理方法、CPR画像表示処理装置及びプログラムを提供する。【解決手段】CT画像データ(ボリュームデータ)の画像空間を、分岐する2本の血管10a,10bの中心線に沿って切断して得た切断曲面を平面化して切断平面を求める。各切断平面上に血管10a,10bに沿って所定幅の保護領域(ストリップ)S1,S2を設定する。ストリップS1,S2を用いて各血管10a,10bが保護されるように排他的に領域を区画してマスクM1〜M4を作成する。マウスで選択された血管が手前に表示されるようにマスクM1,M2又はM3,M4が選択され、マスクM1,M2をもとに対応する切断平面から所定領域を取り出し1枚の画像20aに合成するか、マスクM3,M4をもとに対応する切断平面から所定領域を取り出し1枚の画像20bに合成する。【選択図】 図9
Claim (excerpt)：
CTやMR等の画像撮影装置により撮影された画像データを用いて、分岐体の交差又は重なりのある複数の枝を一つの画像に表示する分岐体のCPR画像表示処理方法であって、 前記画像データの画像空間を、前記複数の枝の経路に沿って枝毎に切断した切断曲面を求め、該切断曲面を平面化処理して得られた複数の切断平面に対し、前記交差又は重なりを含む枝の保護領域を枝毎に設定し、前記各切断平面から前記保護領域を含む枝別の領域を前記各切断平面で排他的に取り出し、該取り出した領域を一つの画像に合成するに際して、前記各保護領域の表示が保護される処理を行う手順を備えたことを特徴とする分岐体のCPR画像表示処理方法。
IPC (6)：
A61B6/03 ,  A61B5/055 ,  G01R33/32 ,  G06T1/00 ,  G06T3/00 ,  G06T17/40
FI (6)：
A61B6/03 360G ,  G06T1/00 290B ,  G06T3/00 300 ,  G06T17/40 A ,  A61B5/05 380 ,  G01N24/02 520Y
F-Term (52)：
4C093AA22 ,  4C093CA23 ,  4C093DA02 ,  4C093FF12 ,  4C093FF20 ,  4C093FF22 ,  4C093FF34 ,  4C093FF35 ,  4C093FF42 ,  4C093FF47 ,  4C093FG05 ,  4C093FG13 ,  4C096AB01 ,  4C096AB11 ,  4C096AB44 ,  4C096AC10 ,  4C096AD14 ,  4C096AD15 ,  4C096DC15 ,  4C096DC35 ,  4C096DC37 ,  4C096DD09 ,  5B050AA02 ,  5B050BA03 ,  5B050BA06 ,  5B050BA08 ,  5B050CA07 ,  5B050DA02 ,  5B050EA12 ,  5B050EA19 ,  5B050EA27 ,  5B050FA02 ,  5B050FA19 ,  5B057AA09 ,  5B057BA03 ,  5B057BA07 ,  5B057BA24 ,  5B057BA26 ,  5B057CA08 ,  5B057CA13 ,  5B057CA16 ,  5B057CC03 ,  5B057CD03 ,  5B057CE08 ,  5B057CH18 ,  5B057DA08 ,  5B057DA16 ,  5B057DB03 ,  5B057DB09 ,  5B057DC08 ,  5B057DC09 ,  5B057DC36
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (9)
Show all

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM