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J-GLOBAL ID：200903068237119265
排ガス分析装置および排ガス分析方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
,
Agent (3)：
平木 祐輔
, 関谷 三男
, 早川 康
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005379499
Publication number (International publication number)：2007178369
Application date： Dec. 28, 2005
Publication date： Jul. 12, 2007
Summary：
【課題】内燃機関からの排ガスに含まれる粒子状物質の濃度をリアルタイムで測定できる排ガス分析装置と排ガス分析方法を提供する。【解決手段】排ガス分析装置は、内燃機関から排出される排ガスにレーザ光を照射して排ガスを分析する装置で、排ガスを導入する排ガス通過孔21と、この排ガス通過孔を流れる排ガスの流れに対して直交する方向にレーザ光を照射する光ファイバ25と、排ガス中を透過した後のレーザ光を受光するディテクタ26と、レーザ光の照射により排ガス中に含まれる粒子状物質PMから生じるミー散乱光を受光する光検出器71と、ディテクタ26から得られる透過光強度の受光データに基づいて排ガス中の成分の濃度を算出すると共に、光検出器71から得られる散乱光強度の実測データに基づいて排ガス中に含まれる粒子状物質の濃度を算出する算出部として、パーソナルコンピュータ45を備える。【選択図】 図4
Claim (excerpt)：
内燃機関から排出される排ガスにレーザ光を照射して排ガスを分析する装置であって、
前記排ガスを導入する導入路と、
該導入路を流れる排ガスの流れに対して直交する方向にレーザ光を照射する光照射部と、
排ガス中を透過した後のレーザ光を受光する透過光受光部と、
前記レーザ光の照射により排ガス中に含まれる粒子状物質から生じるミー散乱光を受光する散乱光受光部と、
前記透過光受光部から得られる透過光強度の受光データに基づいて排ガス中の成分の濃度を算出すると共に、前記散乱光受光部から得られる散乱光強度の実測データに基づいて排ガス中に含まれる粒子状物質の濃度を算出する算出部と、
を備えることを特徴とする排ガス分析装置。
IPC (4)：
G01N 21/39
, G01N 21/53
, G01N 15/06
, G01N 21/49
G01N21/39
, G01N21/53 Z
, G01N15/06 C
, G01N21/49 A
2G059AA01
, 2G059BB01
, 2G059BB09
, 2G059CC04
, 2G059CC05
, 2G059CC09
, 2G059CC13
, 2G059DD12
, 2G059EE01
, 2G059EE02
, 2G059EE12
, 2G059GG01
, 2G059GG02
, 2G059GG03
, 2G059HH01
, 2G059HH06
, 2G059JJ13
, 2G059JJ17
, 2G059JJ22
, 2G059KK05
, 2G059MM01
, 2G059MM05
, 2G059MM09
, 2G059MM10
Cited by applicant (2)
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車載型HC測定装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2002-282994
Applicant：株式会社堀場製作所
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レーザー計測装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2000-235159
Applicant：三菱重工業株式会社
Cited by examiner (5)
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Article cited by the Patent：
Cited by examiner (2)
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Development of Inverse Radiative Methode for Measuring Gaseous and Particles Concentrations in the E
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光学技術ハンドブック 増補版, 19970401, 第14刷, 第1112頁-第1117頁
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