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J-GLOBAL ID：200903068288145864

粒径分布測定装置

Inventor： 池田 英幸
Applicant, Patent owner： 株式会社堀場製作所
Agent (1)： 西村 竜平
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003284575
Publication number (International publication number)：2005055234
Application date： Jul. 31, 2003
Publication date： Mar. 03, 2005
Summary：

【課題】いわゆる回折/散乱式粒径分布測定装置において確実な動作チェックを行うことができ、非常に簡易な構成で動作信頼性を高めることができるようにする。【解決手段】粒子群に光Lを照射する光源3と、前記光Lを照射された粒子群から発生する散乱光LSの強度分布を検出する複数の散乱光検出器4と、前記各散乱光検出器4から出力される散乱光強度信号の値に基づいて前記粒子群の粒径分布を算出する情報処理装置5とを備えたものであって、前記情報処理装置5が、所定濃度の標準サンプルから得られるべき正常な散乱光強度信号の値と、前記標準サンプルに前記光Lを照射して各散乱光検出器4から出力される実際の散乱光強度信号の値とをそれぞれ比較し、各散乱光強度信号が正常であるか否かを判断し、その判断の結果を出力するようにした。【選択図】図4

Claim (excerpt)：

分散媒中に分散させた測定対象となる粒子群に光を照射する光源と、前記光を照射された粒子群から発生する回折及び/又は散乱光の強度分布を検出する複数の散乱光検出器と、前記各散乱光検出器から出力される散乱光強度信号の値に少なくとも基づいて前記粒子群の粒径分布を算出する情報処理装置とを備えたものであって、 前記情報処理装置が、予め粒径分布の把握された所定濃度の標準サンプルから得られるべき正常な散乱光強度信号の値を示す正常信号強度データを格納している正常信号強度データ格納部と、前記標準サンプルに前記光を照射して各散乱光検出器から出力される散乱光強度信号及びそれらに対応する各正常信号データの値をそれぞれ比較し、各散乱光強度信号が正常であるか否かを判断する比較判断部と、その比較判断部による判断の結果を出力する結果出力部とを備えていることを特徴とする粒径分布測定装置。

IPC (1)：

G01N15/02

FI (1)：

G01N15/02 A

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 粒度分布測定装置のオートアライメント機構
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-249870   Applicant：株式会社堀場製作所

Cited by examiner (2)

• 特開昭63-263444
  
• 粒径分布測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-344430   Applicant：株式会社堀場製作所