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J-GLOBAL ID：200903068368002029

分光光度計

Inventor：
乙井 崇史

About 乙井 崇史


Applicant, Patent owner：
財団法人雑賀技術研究所

About 財団法人雑賀技術研究所


Agent (2)： 柳野 隆生 ,  森岡 則夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003368176
Publication number (International publication number)：2005134164
Application date： Oct. 29, 2003
Publication date： May. 26, 2005
Summary：
【課題】 近赤外光等によるオンライン型の青果物等の非破壊検査において、同種類でも青果物の密度の違い、表皮の厚みの違い、大きさの違い等により透過光量が大きく異なる被測定物に対し、データレベルが飽和する、もしくは小さすぎるといったことがなく、搬送速度の変化にも対応でき、高処理量かつ高精度で安定した計測が行える分光光度計を提供する点にある。【解決手段】 青果物等を透過して分光され、入射してきた光をメイン受光部とサンプル用受光部の2箇所にて受光し、まずサンプル用受光部から得られるデジタル値と予め定めた基準値とをデジタル比較演算し、その演算結果に基づいて可変ゲイン型増幅回路のゲインを最適値に設定した後、メイン受光部からの信号を、可変ゲイン型増幅回路、零点補償回路、A/D変換器を経てデジタルデータとして読み出すことにより、適正な波長特性データを得る。【選択図】 図3
Claim (excerpt)：
光を照射する光照射手段と、この光照射手段からの照射光のうち、被測定物を透過して回析格子等の分光器により分光され入射してきた光を波長毎に受光し、電荷量に変換して蓄積するための電荷蓄積型受光素子群を有するメイン受光部と、前記分光され入射してきた光を電荷量として蓄積し、特定の波長、又は特定の波長域の電荷を読み出すためのサンプル用受光部と、前記メイン受光部及びサンプル用受光部の前置増幅器及び駆動回路と、デジタル指令によりゲインの可変が可能な可変ゲイン型増幅回路と、前記メイン受光部及びサンプル用受光部の画素に蓄積された電荷を順次読み込む直前で全ての増幅系の零点を順次取るためにアナログ回路部の少なくとも最終段付近に設けた零点補償回路と、この零点補償回路からのアナログ電圧をデジタル値に変換するためのA/D変換器を備え、計測時において前記メイン受光部及びサンプル用受光部に蓄積された電荷を読むに当たって、まず前記サンプル用受光部からのアナログ電圧を、特定の波長又は特定波長域における波長特性の最大点が飽和しないことが明らかな低いゲインに設定された前記可変ゲイン型増幅回路にて増幅し、その増幅されたアナログ電圧を、前記零点補償回路を経たのち前記A/D変換器にてA/D変換し、そのデジタル変換されたデジタル値と前記メイン受光部から読み込んで最終的に得られ、かつ、必要となる波長又は波長域における波長特性の最大点が飽和することがなく、更に、デジタル値の有効桁数を減じないような最適値となるように予め定めた基準値とをデジタル比較演算するデジタル比較演算手段と、このデジタル比較演算手段からの演算結果に基づいて前記可変ゲイン型増幅回路のゲインを設定するゲイン設定手段と、当該ゲイン設定手段により前記可変ゲイン型増幅回路に当該ゲインを設定した後、前記メイン受光部に蓄積された電荷群を、画素単位で順次、前記前置増幅器及び駆動回路、前記可変ゲイン型増幅回路、前記零点補償回路、前記A/D変換器を経てデジタルデータとして読み出して波長特性を得るためのデジタルデータ読み取り手段を備えてなる分光光度計。
IPC (4)：
G01N21/35 ,  G01J3/18 ,  G01N21/27 ,  G01N21/85
FI (4)：
G01N21/35 Z ,  G01J3/18 ,  G01N21/27 Z ,  G01N21/85 A
F-Term (43)：
2G020AA03 ,  2G020CA02 ,  2G020CB04 ,  2G020CB26 ,  2G020CC05 ,  2G020CC63 ,  2G020CD04 ,  2G020CD24 ,  2G020CD34 ,  2G051AA05 ,  2G051AB20 ,  2G051BA06 ,  2G051BA08 ,  2G051CA03 ,  2G051CA04 ,  2G051CB01 ,  2G051CB02 ,  2G051CC17 ,  2G051DA01 ,  2G051DA06 ,  2G051EA12 ,  2G051EA14 ,  2G051EB01 ,  2G051EB02 ,  2G051ED07 ,  2G059AA01 ,  2G059BB11 ,  2G059CC20 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE12 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ17 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM05 ,  2G059MM09 ,  2G059MM10 ,  2G059MM14
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1)
  • 分光光度計
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-238006   Applicant：株式会社島津製作所
Cited by examiner (5)
  • 分光分析装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-294374   Applicant：株式会社クボタ
  • 特開昭59-019839
  • 特開昭63-201538
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