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J-GLOBAL ID:200903068490187218

磁気トンネル素子及びその製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 小池 晃 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998263696
Publication number (International publication number):2000099923
Application date: Sep. 17, 1998
Publication date: Apr. 07, 2000
Summary:
【要約】【課題】トンネル電流が絶縁層に確実に流れ、安定的な磁気トンネリング効果を発現する。【解決手段】 少なくとも、第1の磁性層と、この第1の磁性層上に形成されたトンネル障壁層と、このトンネル障壁層上に形成された第2の磁性層とを有し、上記トンネル障壁層を介して上記第1の磁性層及び上記第2の磁性層の間にトンネル電流が流れる磁気トンネル素子において、上記第1の磁性層の上記トンネル障壁層が形成される表面の平均粗さ(Ra)が0.3nm以下であることを特徴とするものである。
Claim (excerpt):
少なくとも、第1の磁性層と、この第1の磁性層上に形成されたトンネル障壁層と、このトンネル障壁層上に形成された第2の磁性層とを有し、上記トンネル障壁層を介して上記第1の磁性層及び上記第2の磁性層の間にトンネル電流が流れる磁気トンネル素子において、上記第1の磁性層の上記トンネル障壁層が形成される表面の平均粗さ(Ra)が0.3nm以下であることを特徴とする磁気トンネル素子。
F-Term (4):
5D034BA15 ,  5D034BB20 ,  5D034CA00 ,  5D034DA07
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)

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