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J-GLOBAL ID：200903068702615096

光散乱体の測定装置

Inventor： 竹内 貞夫 ,  岩本 慎一 ,  常石 召一 ,  江田 英雄
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 竹本 松司 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996176525
Publication number (International publication number)：1998019766
Application date： Jul. 05, 1996
Publication date： Jan. 23, 1998
Summary：

【要約】【課題】 光散乱体の測定装置において、測定用プローブが浮いたりはずれた場合のレーザー光による障害を低減して安全性を向上させる。また、測定用プローブの一時的な浮きやはずれに対して、測定を自動再開する。【解決手段】 光を被検体に照射する光発光部21と、光を検出する受光部22,23とを一体化した測定用プローブ20と、光の照射を制御する光制御手段18,19と、受光部によって得られる検出信号を信号処理する信号処理手段16,17,11を備え、信号処理手段によって外乱光の入射状態を検出し、外乱光の入射に応じて光制御手段によって光の照射状態を変更するものであり、これによって、測定用プローブが浮いたりはずれた場合のレーザー光による障害を低減して安全性を向上させることができ、測定用プローブの一時的な浮きやはずれに対して、測定の自動的な再開を可能とする。

Claim (excerpt)：

光を被検体に照射する光発光部と、光を検出する受光部とを一体化した測定用プローブと、前記光の照射を制御する光制御手段と、前記受光部によって得られる検出信号を信号処理する信号処理手段を備え、前記信号処理手段は外乱光の入射状態を検出し、前記光制御手段は該外乱光の入射に応じて光の照射状態を変更することを特徴とする光散乱体の測定装置。

IPC (2)：

G01N 21/27 ,  A61B 5/14 310

FI (2)：

G01N 21/27 B ,  A61B 5/14 310

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 光吸収を用いた計測装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-197888   Applicant：株式会社島津製作所
• 酸素飽和度測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-320721   Applicant：興和株式会社