Pat
J-GLOBAL ID:200903068904345856
分光光度計の品質制御法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
社本 一夫 (外5名)
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2000555079
Publication number (International publication number):2002518670
Application date: Jun. 10, 1999
Publication date: Jun. 25, 2002
Summary:
【要約】【課題】分光光度計の種々の誤差を決定して装置の品質を測定することによって装置の診断をする分光光度計の品質制御方法を提供すること。【解決手段】分光光度計の品質制御方法は、染料を含有する流体状の品質制御用サンプルの吸収スペクトルAm(λ)を分光光度計で測定して該吸収スペクトルを決定し、そして、CΔλ(λ)・Am(λ)(なお、CΔλ(λ)は該分光光度計のメモリ中に予め保存していた所定の係数ベクトルである)から波長シフトΔλを決定することから構成する。
Claim (excerpt):
分光光度計の品質制御法であって、該制御法が、 該分光光度計を用いて、染料を含有する流体QCサンプルのスペクトルAm(λ)を決定する工程と、 CΔλ(λ)・Am(λ)(ただし、CΔλ(λ)は該分光光度計のメモリにあらかじめ保存されている所定の係数ベクトルである)から波長シフトΔλを決定する工程と、 を含むことを特徴とする、分光光度計の品質制御法。
IPC (6):
G01J 3/02
, G01J 3/42
, G01N 21/01
, G01N 21/27
, G01N 21/31
, G01N 21/35
FI (6):
G01J 3/02 C
, G01J 3/42 U
, G01N 21/01 A
, G01N 21/27 F
, G01N 21/31
, G01N 21/35 Z
F-Term (34):
2G020AA04
, 2G020BA02
, 2G020CA02
, 2G020CB34
, 2G020CB43
, 2G020CC05
, 2G020CC26
, 2G020CC63
, 2G020CD03
, 2G020CD13
, 2G020CD24
, 2G020CD34
, 2G020CD37
, 2G020CD38
, 2G020CD39
, 2G059AA01
, 2G059BB13
, 2G059CC07
, 2G059CC18
, 2G059EE01
, 2G059EE12
, 2G059HH02
, 2G059HH06
, 2G059JJ02
, 2G059JJ05
, 2G059JJ17
, 2G059KK04
, 2G059MM01
, 2G059MM03
, 2G059MM05
, 2G059MM09
, 2G059MM10
, 2G059MM12
, 2G059NN10
Patent cited by the Patent:
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