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J-GLOBAL ID：200903092714881997

分光分析計の波長補正方法

Inventor： 小島 淳二 ,  河原 博文 ,  横山 一成
Applicant, Patent owner： 株式会社堀場製作所
Agent (1)： 藤本 英夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998371447
Publication number (International publication number)：1999344378
Application date： Dec. 25, 1998
Publication date： Dec. 14, 1999
Summary：

【要約】【課題】 短時間でしかも確実に分光分析計の波長補正を行うことができる分光分析計の波長補正方法を提供すること。【解決手段】 測定によって得られた吸光度スペクトルAと基準となる吸光度スペクトルSとの波長のずれ量Δλを求め、この波長のずれ量Δλだけシフトさせた曲線を求め、この曲線における波長間をカーブフィッティング法を用いて補間することにより波長補正を行うようにした。

Claim (excerpt)：

測定によって得られた吸光度スペクトルと基準となる吸光度スペクトルとの波長のずれ量を求め、この波長のずれ量だけシフトさせた曲線を求め、この曲線における波長間をカーブフィッティング法を用いて補間することにより波長補正を行うことを特徴とする分光分析計の波長補正方法。

IPC (2)：

G01J 3/28 ,  G01N 21/27

FI (2)：

G01J 3/28 ,  G01N 21/27 F

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

• 分光分析計における多変量解析方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-335952   Applicant：株式会社堀場製作所
• 特開平2-051030
  
• 測定方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-147650   Applicant：キヤノン株式会社
• 特開平2-051030
  
• 特開平2-051030