Pat
J-GLOBAL ID:200903069004477745
ナノ粒子製造方法及びこの方法によって製造されたナノ粒子
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (3):
平木 祐輔
, 渡辺 敏章
, 関口 鶴彦
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003154977
Publication number (International publication number):2004352594
Application date: May. 30, 2003
Publication date: Dec. 16, 2004
Summary:
【課題】サイズ選択光エッチング法により調製された単分散半導体ナノ粒子の品質のばらつきを抑制し、その光学特性を均一化する。【解決手段】ナノ粒子に対してサイズ選択光エッチング法を適用する際に、サイズ選択光エッチング反応時のpHを制御することにより、再現性の高い単分散半導体ナノ粒子の調製が可能となった。【選択図】 図4
Claim (excerpt):
サイズ選択光エッチング法を用いたナノ粒子の調製方法において、サイズ選択光エッチング反応時のpH値を制御することを特徴とするナノ粒子製造方法。
IPC (21):
C01G11/02
, C01B19/04
, C01B21/06
, C01B25/08
, C01G9/02
, C01G9/08
, C01G11/00
, C01G21/21
, C01G41/00
, C01G45/00
, C09K11/08
, C09K11/54
, C09K11/56
, C09K11/62
, C09K11/66
, C09K11/67
, C09K11/68
, C09K11/70
, C09K11/74
, C09K11/88
, C09K11/89
FI (23):
C01G11/02
, C01B19/04 A
, C01B19/04 C
, C01B19/04 H
, C01B21/06 N
, C01B25/08 A
, C01G9/02 A
, C01G9/08
, C01G11/00
, C01G21/21
, C01G41/00
, C01G45/00
, C09K11/08 A
, C09K11/54
, C09K11/56
, C09K11/62
, C09K11/66
, C09K11/67
, C09K11/68
, C09K11/70
, C09K11/74
, C09K11/88
, C09K11/89
F-Term (37):
4G047BA01
, 4G047BA02
, 4G047BB01
, 4G047BB03
, 4G047BB05
, 4G047BC02
, 4G047BD03
, 4G048AA01
, 4G048AA07
, 4G048AB02
, 4G048AB03
, 4G048AB04
, 4G048AC08
, 4G048AD03
, 4G048AE05
, 4H001CA02
, 4H001CA04
, 4H001CF01
, 4H001XA07
, 4H001XA08
, 4H001XA12
, 4H001XA13
, 4H001XA15
, 4H001XA16
, 4H001XA22
, 4H001XA25
, 4H001XA30
, 4H001XA31
, 4H001XA33
, 4H001XA34
, 4H001XA48
, 4H001XA49
, 4H001XA51
, 4H001XA52
, 4H001XA74
, 4H001XA80
, 4H001XA82
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (7)
-
特開平4-193715
-
均一サイズの粒子の製造
Gazette classification:公表公報
Application number:特願平7-514293
Applicant:アイシス・イノベーション・リミテッド
-
半導体ナノ粒子及びその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-210902
Applicant:日立ソフトウエアエンジニアリング株式会社
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Article cited by the Patent:
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