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J-GLOBAL ID：200903069066549327

粉体ホルダ、測定用試料製造方法及び試料分析方法

Inventor：
田中 美知

About 田中 美知


Applicant, Patent owner：
TDK株式会社

About TDK株式会社


Agent (3)： 長谷川 芳樹 ,  寺崎 史朗 ,  青木 博昭
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004258852
Publication number (International publication number)：2006071608
Application date： Sep. 06, 2004
Publication date： Mar. 16, 2006
Summary：
【課題】 試料表面の平滑性が求められる分析において、粉体であっても容易に測定用試料を製造することができ、測定効率の向上を可能とする粉体ホルダ、測定用試料製造方法及び試料分析方法を提供すること。【解決手段】 本発明の粉体ホルダは、基台部と、基台部上に設けられた粉体保持部と、を備え、粉体保持部が、粉体保持部の基台部と反対側に粉体を収容する粉体収容孔を少なくとも1つ有し、粉体保持部の硬度が、基台部の硬度よりも小さい。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
基台部と、該基台部上に設けられた粉体保持部と、を備え、 前記粉体保持部が、前記粉体保持部の前記基台部と反対側に粉体を収容する粉体収容孔を少なくとも1つ有し、 前記粉体保持部の硬度が、前記基台部の硬度よりも小さい、粉体ホルダ。
IPC (4)：
G01N 23/225 ,  G01N 23/223 ,  G01N 1/36 ,  G01N 1/28
FI (4)：
G01N23/225 ,  G01N23/223 ,  G01N1/28 R ,  G01N1/28 W
F-Term (23)：
2G001AA01 ,  2G001AA03 ,  2G001BA04 ,  2G001BA05 ,  2G001CA01 ,  2G001EA01 ,  2G001KA01 ,  2G001MA04 ,  2G001PA11 ,  2G001PA12 ,  2G001PA14 ,  2G001QA02 ,  2G001QA10 ,  2G001RA01 ,  2G001RA20 ,  2G052AD35 ,  2G052AD52 ,  2G052DA33 ,  2G052FD13 ,  2G052FD20 ,  2G052GA19 ,  2G052GA35 ,  2G052JA07
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)

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