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J-GLOBAL ID：200903069121303642

散乱吸収体計測装置の校正方法、及びそれを用いた散乱吸収体計測装置

Inventor：
山下 豊

About 山下 豊

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三輪 光春

About 三輪 光春

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浦上 恒幸

About 浦上 恒幸


Applicant, Patent owner：
浜松ホトニクス株式会社

About 浜松ホトニクス株式会社


Agent (1)： 長谷川 芳樹 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000331247
Publication number (International publication number)：2002139420
Application date： Oct. 30, 2000
Publication date： May. 17, 2002
Summary：
【要約】【課題】 校正用計測及び装置関数の算出を容易に実行可能な散乱吸収体計測装置の校正方法、及びそれを用いた散乱吸収体計測装置を提供する。【解決手段】 散乱吸収体計測装置の計測対象となる散乱吸収体SMとして、光学パラメータが既知の校正用の散乱吸収体を設置し、光源20からのパルス光を光入射用光ガイド40aを介して光入射位置Aから入射し、散乱吸収体SMの内部を散乱しつつ伝播したパルス光を光検出位置Bから光検出用光ガイド40bを介して光検出器30で検出して、校正用計測を行う。そして、信号処理部50で得られた計測波形に対して、演算処理部60の装置関数算出部61で理論波形との比較演算を行って、計測装置自体による装置関数を算出する。これによって、校正用計測及び装置関数の算出が容易化される。
Claim (excerpt)：
所定波長のパルス光を散乱吸収体に対して光入射位置から入射する光入射手段と、前記散乱吸収体の内部を伝播した前記所定波長のパルス光を光検出位置で検出して光検出信号を取得する光検出手段と、前記光検出信号に基づいて、光強度の時間変化を示す計測波形を取得する信号処理手段と、を備える散乱吸収体計測装置に対して用いられる校正方法であって、校正用の散乱吸収体に対して、前記光入射手段から前記所定波長のパルス光を入射し、前記校正用の散乱吸収体の内部を伝播した前記所定波長のパルス光を前記光検出手段で検出して、前記信号処理手段で前記計測波形を取得する校正用計測を行うとともに、前記校正用計測で取得された前記計測波形と、あらかじめ用意された理論波形とに対して比較演算を行って、前記計測波形に重畳されている装置関数を分離して算出することを特徴とする散乱吸収体計測装置の校正方法。
IPC (2)：
G01N 21/17 625 ,  A61B 10/00
FI (2)：
G01N 21/17 625 ,  A61B 10/00 E
F-Term (23)：
2G059AA01 ,  2G059BB12 ,  2G059EE01 ,  2G059EE11 ,  2G059FF01 ,  2G059FF04 ,  2G059GG01 ,  2G059GG02 ,  2G059GG08 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ01 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ25 ,  2G059JJ26 ,  2G059KK01 ,  2G059KK02 ,  2G059MM01 ,  2G059MM02 ,  2G059MM05 ,  2G059MM10 ,  2G059MM14 ,  2G059NN08 ,  2G059NN09
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (5)
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Cited by examiner (5)
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