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J-GLOBAL ID：200903070025001099

画像測定装置、画像測定方法、画像処理装置

Inventor：
鶴我 靖子

About 鶴我 靖子

, 
伊藤 忠之

About 伊藤 忠之

, 
高地 伸夫

About 高地 伸夫


Applicant, Patent owner：
株式会社トプコン

About 株式会社トプコン


Agent (5)： 宮川 貞二 ,  東野 博文 ,  宮川 清 ,  松村 博之 ,  高橋 和夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002351844
Publication number (International publication number)：2004184240
Application date： Dec. 03, 2002
Publication date： Jul. 02, 2004
Summary：
【課題】左右画像に対して空間領域での相関処理を用いてステレオマッチングによる対応点を求める場合、対応点中に誤対応点が含まれる可能性を矮小化して、信頼性の高い二次元又は三次元計測を可能とする画像測定装置を提供すること。【解決手段】画像形成部12により形成された捜索画像14において、探索データブロック設定部16より設定された基準データブロックと対応関係となる対応捜索画像領域20を求める捜索対応検出部19と、対応捜索画像領域20を用いて捜索画像14中に基準データブロック17に相当する逆対応データブロック22を設定し、基準画像13において逆対応データブロック22と対応関係となる逆対応基準画像領域23を求め、基準画像13において逆対応基準画像領域23と基準データブロック17とが一致するか判定する逆対応判別部21とを備えている。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
一対のステレオ画像に関して第1解像度の第1基準画像と第1捜索画像を形成すると共に、前記第1解像度より高い第2解像度の第2基準画像と第2捜索画像を形成する画像形成部と; 前記第1基準画像に第1基準データブロックを設定し、前記第2基準画像に、前記第2解像度に対応する画素データを有する第2基準データブロックを設定すると共に、前記第2捜索画像に、前記第2解像度に対応する画素データを有する第2捜索データブロックを設定する探索データブロック設定部と; 前記第1捜索画像中において前記第1基準データブロックと対応関係となる第1対応捜索画像領域を求め、前記第2捜索画像中の前記第2捜索データブロックにおいて、前記第2基準データブロックと対応関係となる第2対応捜索画像領域を求める捜索対応検出部と; 前記第2対応捜索画像領域を用いて前記第2捜索画像中に前記第2基準データブロックに相当する逆対応データブロックを設定し、前記第2基準画像において前記逆対応データブロックと対応関係となる逆対応基準画像領域を求め、前記第2基準画像において前記逆対応基準画像領域と前記第2基準データブロックとが一致するか判定する逆対応判別部と; を備え、前記逆対応判別部により前記逆対応基準画像領域と前記第2基準データブロックとが一致すると判定された第2対応捜索画像領域を用いて、前記第2基準画像と前記第2捜索画像との位置関係を求め、求められた位置関係を利用して前記一対のステレオ画像に撮影された対象物の測定を行なうように構成された画像測定装置。
IPC (4)：
G01B11/24 ,  G01B11/245 ,  G06T1/00 ,  G06T7/00
FI (4)：
G01B11/24 K ,  G06T1/00 315 ,  G06T7/00 300E ,  G01B11/24 N
F-Term (31)：
2F065AA04 ,  2F065AA12 ,  2F065AA53 ,  2F065AA54 ,  2F065BB27 ,  2F065CC19 ,  2F065CC25 ,  2F065DD00 ,  2F065DD06 ,  2F065FF05 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ32 ,  2F065QQ38 ,  2F065QQ42 ,  5B057AA20 ,  5B057CA12 ,  5B057CB13 ,  5B057CD14 ,  5B057CH01 ,  5B057CH11 ,  5B057DA07 ,  5B057DB02 ,  5B057DC16 ,  5B057DC33 ,  5L096BA20 ,  5L096CA05 ,  5L096DA02 ,  5L096FA69 ,  5L096HA07 ,  5L096LA05
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (4)
  • 画像測定装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-147064   Applicant：株式会社トプコン
  • 画像測定装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-147066   Applicant：株式会社トプコン
  • ステレオ対応探索装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-247172   Applicant：シャープ株式会社
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