欠点検査装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：松浦憲三
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000249772
Publication number (International publication number)：2002062267
Application date： Aug. 21, 2000
Publication date： Feb. 28, 2002
Summary：

【要約】【課題】小型で簡単な構造のガラス板欠点検査装置を提供する【解決手段】ガラス板12の上面12Bに第1プリズム14を配置し、ガラス板12の下面12Cに第2プリズム16を配置し、カメラ18をガラス板12の端面12Aに対向配置し、カメラ18で端面12A、上面12B、下面12Cを同時に撮像する。

Claim (excerpt)：

板状の被検査体の端面及び端面の近傍に存在する傷、欠け等の欠点を検出する欠点検査装置において、被検査体の一方面に配置された第1プリズムと、被検査体の他方面に配置された第2プリズムと、被検査体の端面に対向配置され該端面を撮像するとともに、前記第1プリズムを介して被検査体の一方面と第2プリズムを介して被検査体の他方面とを撮像する撮像手段と、該撮像手段で撮像された画像に基づいて被検査体の一方面、他方面、及び端面に存在する欠点を検出する検出手段と、を備えたことを特徴とする欠点検査装置。

F-Term (11)：

2G051AA42 , 2G051AB03 , 2G051AB05 , 2G051AB08 , 2G051BB05 , 2G051CA04 , 2G051CB05 , 2G051CC11 , 2G051DA06 , 2G051EB01 , 2G051ED09

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (7)

板ガラスの欠点検出装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平3-011169 Applicant：セントラル硝子株式会社, 大洋エレックス株式会社
被検査物の撮像装置および半導体パッケージの検査装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-157049 Applicant：株式会社小松製作所
物品の表面検査方法およびそれに使用する装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-039839 Applicant：藤沢薬品工業株式会社

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