Pat
J-GLOBAL ID:200903070580251289
液体クロマトグラフ質量分析計
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
小林 良平
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000385160
Publication number (International publication number):2002181784
Application date: Dec. 19, 2000
Publication date: Jun. 26, 2002
Summary:
【要約】【課題】 必要な測定データだけを効率よく採取できるだけでなく、LC部からの溶出試料の濃度や定性情報に応じてMS部の見かけ上のダイナミックレンジや動作条件を変更する操作を適切に実行できるようなLC/MSを提供する。【解決手段】 試料を含むキャリア液がまず副検出器に入り、更にそれより所定時間後に主検出器(質量分析計)に入るようにLC/MSの流路を構成する。分析中、制御装置は副検出器の出力信号からクロマトグラムを作成し、その波形処理により各ピークの時間範囲ts0〜te0をリアルタイムで求める。また、制御装置は、前記時間範囲ts0〜te0より所定時間Δtだけ遅れた時間範囲ts1〜te1においてのみ、主検出器により測定データを採取する。
Claim (excerpt):
主検出器たる質量分析計と、該質量分析計とは別に設けられた副検出器とを備え、液体クロマトグラフ部からの試料がまず前記副検出器に入り、それより所定時間だけ遅れて前記質量分析計に入るように流路が構成された液体クロマトグラフ質量分析計であって、前記副検出器の出力信号から得られるクロマトグラムを波形処理することにより該クロマトグラムのピークを検出するピーク検出部、及び前記ピークの前記クロマトグラムにおける保持時間に応じて前記質量分析計の測定動作を制御する制御部を備えることを特徴とする液体クロマトグラフ質量分析計。
IPC (3):
G01N 27/62
, G01N 30/72
, G01N 30/86
FI (3):
G01N 27/62 X
, G01N 30/72 C
, G01N 30/86 E
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
-
特開平2-163655
-
液体クロマトグラフ質量分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-320634
Applicant:日本電子株式会社
-
特開昭61-102553
-
液体クロマトグラフ質量分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-306040
Applicant:株式会社日立製作所
-
液体クロマトグラフ直結質量分析方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-178770
Applicant:株式会社日立製作所
Show all
Return to Previous Page