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J-GLOBAL ID：200903071457383967

画像信号処理装置及び画素欠陥の検出方法

Inventor：
渡辺 透

About 渡辺 透


Applicant, Patent owner：
三洋電機株式会社

About 三洋電機株式会社


Agent (1)： 芝野 正雅
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000282166
Publication number (International publication number)：2001197372
Application date： Sep. 18, 2000
Publication date： Jul. 19, 2001
Summary：
【要約】【課題】 画像信号に含まれる画素欠陥を効率よく検出する。【解決手段】 欠陥検出回路12で目標画素の画像信号を周辺画素の画像信号と対比して画素欠陥候補を検出し、画素欠陥候補のアドレス情報を位置メモリ回路13に記憶する。位置メモリ回路13に記憶されたアドレス情報に基づいて欠陥判定回路14が画素欠陥の判定を繰り返し、その判定結果の連続性から画素欠陥のアドレス情報を決定し、欠陥登録回路15に登録する。登録された画素欠陥のアドレス情報に応じて欠陥補正回路16が画像信号Y(n)を補正して、画像信号Y'(n)を生成する。
Claim (excerpt)：
画面を表示する画像信号に基づいて、画面上の画素欠陥を検出する画像信号処理装置であって、目標画素に対応する画像信号のレベルを目標画素に隣接する複数の周辺画素に対応する画像信号のレベルに基づいて設定される判定基準値と比較して欠陥候補を検出する検出回路と、上記検出回路により検出された欠陥候補の複数の画面にわたる連続性に基づいて画素欠陥を判定する判定回路と、上記判定回路で判定された画素欠陥の位置を示す欠陥情報を記憶するメモリ回路と、を備え、上記メモリ回路に記憶された欠陥情報に応じて上記目標画素を補正することを特徴とする画像信号処理装置。
IPC (3)：
H04N 5/335 ,  G06T 1/00 460 ,  H04N 1/028
FI (3)：
H04N 5/335 P ,  G06T 1/00 460 E ,  H04N 1/028 A
F-Term (22)：
5B047BB02 ,  5B047CB05 ,  5B047CB09 ,  5B047CB23 ,  5B047CB25 ,  5C024CX22 ,  5C024CX23 ,  5C024CY39 ,  5C024GY01 ,  5C024HX14 ,  5C024HX20 ,  5C024HX21 ,  5C024HX28 ,  5C024HX29 ,  5C024HX30 ,  5C024HX32 ,  5C024HX58 ,  5C051AA01 ,  5C051BA03 ,  5C051DB01 ,  5C051DE12 ,  5C051DE13
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)

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