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J-GLOBAL ID:200903071495213455
内視鏡形状検出装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
伊藤 進
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998030030
Publication number (International publication number):1999225942
Application date: Feb. 12, 1998
Publication date: Aug. 24, 1999
Summary:
【要約】【課題】構造が単純で、簡単な操作で精度よく挿入部の挿入状態形状を把握することが可能な内視鏡形状検出装置を提供すること。【解決手段】内視鏡形状検出装置1のコントローラ10には内視鏡の挿入部の挿入状態形状を検出する回路11が設けられている。この回路には磁界発生素子7の各軸の磁気発生用コイルに電流を供給する電流駆動部12と、磁界発生素子7で発生した磁界を検出することによって磁界検出素子3で変換される電流信号を検出する電流検出部13と、電流信号を記憶する電流信号記憶部14と、磁界発生素子7に対する磁界検出素子3の相対的位置情報を生成する位置解析部15と、この相対位置情報を基に磁界検出素子3の軌跡を算出する位置軌跡積算部16とが設けられており、この位置軌跡積算部16で算出した結果を挿入部の挿入状態形状として表示部17に表示する構成である。
Claim (excerpt):
磁界を発生し位置原点になる磁界発生手段と、内視鏡に備えられている処置具挿通用チャンネルに挿抜自在なカテーテルの先端部に設けられ、前記磁界発生手段から発生する磁界を検出する1つの磁界検出手段と、この磁界検出手段で検出した検出情報に基づいて、この磁界検出手段の前記磁界発生手段に対する相対位置情報を生成する先端部位置検出手段と、この位置検出手段で検出した位置情報に基づいて、前記磁界検出手段の軌跡を算出する先端部軌跡算出手段と、この先端部軌跡算出手段の検出結果を表示する表示手段と、を備えたことを特徴とする内視鏡形状検出装置。
IPC (2):
A61B 1/00 300
, A61B 5/107
FI (2):
A61B 1/00 300 D
, A61B 5/10 300 Z
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (7)
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内視鏡位置検出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-137468
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
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位置決定システム
Gazette classification:公表公報
Application number:特願平6-506030
Applicant:ブリテイッシュ・テレコミュニケーションズ・パブリック・リミテッド・カンパニー
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特公昭63-047452
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内視鏡用処置具挿抜装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-216303
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
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特公平1-007779
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特公昭61-037938
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体腔内位置検知装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-080893
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
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