ファイバブラッググレーティング素子反射光波長計測処理装置

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：猪股祥晃 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002053884
Publication number (International publication number)：2003254834
Application date： Feb. 28, 2002
Publication date： Sep. 10, 2003
Summary：

【要約】【課題】光ファイバブラッググレーティング素子(FBG)の反射光の波長を精度よく計測する。【解決手段】FBGで反射される反射光に対して必要な波長のみを選択的に透過する狭帯域フィルタ部1と、所定の波長の範囲内で狭帯域フィルタ部が選択的に透過する波長を走査する波長走査制御部4と、狭帯域フィルタ部を透過した反射光を検出して強度値に変換する光検出処理部2と、強度値を平滑化微分処理して微係数値を求める平滑化微分フィルタ部5と、微係数値が閾値H以上である領域と微係数値が閾値L以下となる領域とで挟まれた連続するゼロレベルの平坦区間を演算区間として設定する演算区間設定部6と、演算区間の反射光の強度値と走査波長の値を加重平均計算に基づいて、反射光の中心波長を演算する加重平均計算処理部32と、を備えている。

Claim (excerpt)：

光ファイバブラッググレーティング素子を光ファイバで接続し、参照光を前記光ファイバに導入して前記光ファイバブラッググレーティング素子で反射される反射光の波長を計測する装置において、前記反射光に対して特定の波長のみを選択的に透過する狭帯域フィルタ部と、所定の波長の範囲内で前記狭帯域フィルタ部が選択的に透過する波長を走査する波長走査制御部と、前記狭帯域フィルタ部を透過した反射光を検出して強度値に変換する光検出処理部と、前記強度値を平滑化微分処理して波長による微係数値を求める平滑化微分フィルタ部と、前記微係数値があらかじめ設定された第1の閾値以上である領域と、前記微係数値が前記第1の閾値よりも小さくあらかじめ設定された第2の閾値以下となる領域とで挟まれた連続するゼロレベルの平坦区間を演算区間として設定する演算区間設定部と、前記演算区間の反射光の強度値と走査波長の値を加重平均計算に基づいて、前記反射光の中心波長および波長シフト量の少なくとも一方を演算する加重平均計算処理部と、を備えたことを特徴とする、光ファイバブラッググレーティング素子反射光波長計測処理装置。

IPC (2)：

G01J 9/00 , G01J 3/18

FI (2)：

G01J 9/00 , G01J 3/18

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

波長検出装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-101105 Applicant：富士電機株式会社
分光蛍光光度計
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-259254 Applicant：株式会社島津製作所
波長ロッカーモジュール
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-198955 Applicant：古河電気工業株式会社

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