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J-GLOBAL ID：200903072393065598
側方散乱光を用いた遠隔レーザーレーダー微粒子計数装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (6)：
社本 一夫
, 増井 忠弐
, 小林 泰
, 千葉 昭男
, 富田 博行
, 桜井 周矩
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003294227
Publication number (International publication number)：2005062055
Application date： Aug. 18, 2003
Publication date： Mar. 10, 2005
Summary：
【課題】 従来のレーザーレーダー方式では、大気中遠方の限られた空間にある微粒子にレーザー光を照射して、微粒子個々からの散乱光を一つずつ検出しなければならないという問題点がある。【解決手段】 レーザー光をシート状に大気中に出射し、そのシート面内の微粒子個々から側方散乱光を発生させ、レーザー光のシート面の垂直方向に備え付けられた高感度2次元光検出器で微粒子個々からの側方散乱光を計測することにより気中の個々の微粒子を斑点状の画像として計測し、この画像中の斑点の数、及び斑点の輝度を解析することにより、遠方の限られた空間に存在する微粒子の数、密度、粒径分布及び空間分布等を同時に算出する、側方散乱光を用いた遠隔レーザーレーダー微粒子計数装置。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
レーザーレーダー装置において、レーザー出射地点より遠方にある大気または室内中に浮遊する微粒子(エアロゾル)群に向けてレーザー光をシート状に拡大して照射し、レーザー光との相互作用によって微粒子個々から生じる側方散乱光を画像として検出することにより、大気中に浮遊する微粒子等の数、密度、粒径分布等を遠隔で同時に計測することを可能とする、側方散乱光を用いた遠隔レーザーレーダー微粒子計数装置。
IPC (1)：
FI (1)：
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (5)
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パーティクルの測定方法
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平4-010413
Applicant：沖電気工業株式会社
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微粒子計測装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平5-161315
Applicant：興和株式会社
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エアロゾル検出装置およびその方法
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平10-182925
Applicant：新日本空調株式会社
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Cited by examiner (2)
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