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J-GLOBAL ID：200903072521874020

クロマトグラフ質量分析データ処理装置

Inventor：
山口 真一

About 山口 真一


Applicant, Patent owner：
株式会社島津製作所

About 株式会社島津製作所


Agent (1)： 小林 良平
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007186424
Publication number (International publication number)：2009025056
Application date： Jul. 18, 2007
Publication date： Feb. 05, 2009
Summary：
【課題】多変量解析の結果に基づいて、試料の相違等を特徴付ける複数の化合物に関する情報を容易に得る。【解決手段】複数の試料についてLC/MS分析を行って収集したデータに対し、多変量解析(主成分分析)を行ってローディングプロットを作成し表示する。このローディングプロット上でオペレータが複数の試料のグループ分けに影響していると推測できる特徴的な指示点を選択するように範囲Aを指定する。すると、保持時間と質量電荷比とを軸とした等強度線グラフ上に、上記範囲Aに包含される指示点に対応する化合物に対するピークを示すマーキングBが表示される。これにより、例えば試料のグループ分けに影響する化合物が或る化合物系列に属するものである、等の検証が容易に行える。【選択図】図5
Claim (excerpt)：
試料を成分分離するクロマトグラフと、該クロマトグラフで成分分離された試料を質量分析する質量分析計と、を組み合わせたクロマトグラフ質量分析装置で収集されたデータを処理するクロマトグラフ質量分析データ処理装置において、 a)1乃至複数の試料についてクロマトグラフ質量分析を行って収集されたデータに基づいて、保持時間と質量電荷比とを平面上の二軸とし、信号強度を等高線又はそれに相当する強度の相違が識別可能な表現で表したグラフを試料毎に作成する、グラフ作成手段と、 b)前記1乃至複数の試料についてクロマトグラフ質量分析を行って収集されたデータに対し多変量解析処理を行い、その結果を表示する多変量解析結果表示手段と、 c)前記多変量解析結果表示手段により表示された多変量解析結果上で、ユーザが特定の1乃至複数の指示点又は複数の指示点を包含する指定範囲を指定するための指定手段と、 d)前記指定手段により指定された指示点又は指定された範囲に包含される指示点に対応付けられるクロマトグラフ質量分析により収集されたデータであることを示す表示を、前記グラフ作成手段により作成されるグラフ上に重畳して表示させるグラフ表示処理手段と、 を備えることを特徴とするクロマトグラフ質量分析データ処理装置。
IPC (5)：
G01N 27/62 ,  G01N 30/72 ,  G01N 30/86 ,  H01J 49/10 ,  H01J 49/26
FI (8)：
G01N27/62 D ,  G01N27/62 X ,  G01N30/72 A ,  G01N30/72 C ,  G01N30/86 D ,  G01N30/86 G ,  H01J49/10 ,  H01J49/26
F-Term (16)：
2G041CA01 ,  2G041EA04 ,  2G041EA06 ,  2G041GA03 ,  2G041GA06 ,  2G041GA08 ,  2G041HA01 ,  2G041LA20 ,  2G041MA01 ,  2G041MA04 ,  2G041MA05 ,  5C038GG06 ,  5C038GG08 ,  5C038GH05 ,  5C038HH02 ,  5C038HH16
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (5)
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