自動分析装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：井上学
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006003162
Publication number (International publication number)：2007187446
Application date： Jan. 11, 2006
Publication date： Jul. 26, 2007
Summary：

【課題】キャリブレーション測定のための操作を自動化し、ユーザ作業の軽減および作業誤りを低減する分析装置を提供すること。【解決手段】分析項目毎にゼロ濃度の標準試料として分析装置内で使用される精製水を使用するか、試料載置位置にセットされる予め準備された標準試料を使用するか、を、予め記憶する記憶手段を備え、前記分析項目について精度管理測定またはキャリブレーションの実行が指示された場合は、前記記憶手段に記憶された情報に基づき、精度管理測定またはキャリブレーション測定を精製水あるいは予め準備された標準試料のいずれかを用いて実行する機能を備えた自動分析装置。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

分析項目毎にゼロ濃度の標準試料として分析装置内で使用される精製水を使用するか、試料載置位置にセットされる予め準備された標準試料を使用するか、を、予め記憶する記憶手段を備え、前記分析項目について精度管理測定またはキャリブレーションの実行が指示された場合は、前記記憶手段に記憶された情報に基づき、精度管理測定またはキャリブレーション測定を精製水あるいは予め準備された標準試料のいずれかを用いて実行する機能を備えたことを特徴とする自動分析装置。

IPC (2)：

G01N 35/00 , G01N 35/04

FI (2)：

G01N35/00 A , G01N35/04 H

F-Term (8)：

2G058CB15 , 2G058CD04 , 2G058CE08 , 2G058EA02 , 2G058EA04 , 2G058ED03 , 2G058GD01 , 2G058GD02

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

自動分析方法及び装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-027914 Applicant：株式会社日立製作所

Cited by examiner (9)

特開平4-065676
特開平4-065676
自動分析装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-169499 Applicant：株式会社日立製作所

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