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J-GLOBAL ID:200903073387950144

ひび割れ検出方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (4): 平木 祐輔 ,  関谷 三男 ,  早川 康 ,  石川 滝治
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005017404
Publication number (International publication number):2006162583
Application date: Jan. 25, 2005
Publication date: Jun. 22, 2006
Summary:
【課題】 コンクリート表面の汚れや照明条件などによってひび割れの検出が困難な場合においても、簡易に高精度のひび割れ検出をおこなうことのできるひび割れ検出方法を提供すること。【解決手段】 対比される2つの濃度に対応したウェーブレット係数を算定するとともに、該2つの濃度をそれぞれ変化させた場合のそれぞれのウェーブレット係数を算定してウェーブレット係数テーブルを作成し、ひび割れ検出対象であるコンクリート表面を撮影した入力画像をウェーブレット変換することによってウェーブレット画像を作成する工程と、前記ウェーブレット係数テーブル内において、局所領域内の近傍画素の平均濃度と注目画素の濃度に対応するウェーブレット係数を閾値として、注目画素のウェーブレット係数と該閾値とを比較することによりひび割れ領域とひび割れでない領域を判定する工程とからなるひび割れ検出方法である。【選択図】 図7
Claim (excerpt):
コンクリート表面に生じているひび割れの検出をおこなうひび割れ検出方法であって、 対比される2つの濃度に対応したウェーブレット係数を算定するとともに、該2つの濃度をそれぞれ変化させた場合のそれぞれのウェーブレット係数を算定してウェーブレット係数テーブルを作成し、ひび割れ検出対象であるコンクリート表面の撮影画像をコンピュータに入力して入力画像とし、該入力画像をウェーブレット変換することによってウェーブレット画像を作成する第一工程と、ウェーブレット係数テーブル内において局所領域内の近傍画素の平均濃度と注目画素の濃度に対応するウェーブレット係数を閾値とし、注目画素のウェーブレット係数が閾値よりも大きな場合は該注目画素をひび割れと判定し、注目画素のウェーブレット係数が閾値よりも小さな場合は該注目画素をひび割れでないと判定し、局所領域および注目画素を変化させながら注目画素のウェーブレット係数と閾値との比較をおこなうことによってひび割れ抽出画像を作成する第二工程と、からなることを特徴とするひび割れ検出方法。
IPC (3):
G01N 21/88 ,  G06T 1/00 ,  G06T 3/00
FI (4):
G01N21/88 Z ,  G01N21/88 J ,  G06T1/00 300 ,  G06T3/00 300
F-Term (31):
2G051AA90 ,  2G051AB03 ,  2G051CA04 ,  2G051EA12 ,  2G051EA25 ,  2G051EB01 ,  2G051EC02 ,  2G051EC03 ,  2G051EC06 ,  2G051ED05 ,  5B057AA01 ,  5B057BA02 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CC01 ,  5B057CE02 ,  5B057CE05 ,  5B057CE08 ,  5B057CE11 ,  5B057CG02 ,  5B057CH08 ,  5B057CH11 ,  5B057CH18 ,  5B057DA03 ,  5B057DA08 ,  5B057DB02 ,  5B057DB09 ,  5B057DC17 ,  5B057DC22 ,  5B057DC36
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1) Cited by examiner (3)
  • 特開平1-182714
  • 構造物表面のひび割れ計測方法
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平10-171200   Applicant:株式会社大林組, 学校法人早稲田大学
  • 画像のノイズ除去方法
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2002-293167   Applicant:株式会社大林組, 学校法人早稲田大学
Article cited by the Patent:
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