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J-GLOBAL ID：200903084784405774

画像のノイズ除去方法

Inventor： 佐藤 立 ,  山田 守 ,  橋本 周司
Applicant, Patent owner： 株式会社大林組 ,  学校法人早稲田大学
Agent (1)： 松本 雅利
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002293167
Publication number (International publication number)：2004125716
Application date： Oct. 07, 2002
Publication date： Apr. 22, 2004
Summary：

【課題】材料表面の汚れ,しみ,影などのノイズ要因を除去すること。【解決手段】ノイズ除去方法では、s1で、元画像Aの撮像が行われ。次に、s2で、グレースケール化および色調レベルの補正が行われ、ノイズ除去用画像Bを作製するためのノイズ除去用原画像B0が作成される(s3)。次に、s4で、ノイズ除去用原画像B0から計測対象Xのみを消去して、ノイズ除去用画像Bを作成する。ノイズ除去用画像Bが得られると、次のs5で、計測対象Yだけを抽出する処理が行われる。この計測対象Yの抽出処理は、元画像Aからノイズ除去用画像Bを減算することにより行われる。続く、s6では、背景色の変換が行われ、その後は、二値化処理などを行って、ひび割れや亀裂などの計測対象Yを検出することになる。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

ひび割れや亀裂などの計測対象が存在する構造物表面などの計測対象物を撮像した元画像を得て、 前記元画像に基づいてデジタル化された画像データを作成し、 前記画像データに二値化などの画像処理を行い、前記計測対象を検出するひび割れの計測方法において、 前記元画像から前記計測対象のみを消去したノイズ除去用画像を作成し、 前記元画像から前記ノイズ除去用画像を減算して、前記計測対象を抽出することを特徴とする画像のノイズ除去方法。

IPC (3)：

G01B11/30 ,  E04G23/02 ,  G01N21/88

FI (3)：

G01B11/30 A ,  E04G23/02 A ,  G01N21/88 J

F-Term (18)：

2E176AA01 ,  2E176BB38 ,  2F065AA49 ,  2F065DD04 ,  2F065FF01 ,  2F065FF04 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ04 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ34 ,  2F065RR00 ,  2G051AA90 ,  2G051AB03 ,  2G051AB07 ,  2G051EA16 ,  2G051EA24 ,  2G051ED03

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 構造物表面のひび割れ計測方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-171200   Applicant：株式会社大林組, 学校法人早稲田大学
• 特開平4-180735
  
• 特開平3-190469