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J-GLOBAL ID：200903073864907167

粒子挙動解析装置

Inventor：
永井 新吾

About 永井 新吾


Applicant, Patent owner：
キヤノン株式会社

About キヤノン株式会社


Agent (1)： 高梨 幸雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001331915
Publication number (International publication number)：2003139829
Application date： Oct. 30, 2001
Publication date： May. 14, 2003
Summary：
【要約】【課題】 磁性粒子の挙動解析において,解析領域内を磁性部材が移動する場合について、磁界における磁性部材の影響を簡単に考慮することができ、精度良い挙動解析を実現する。【解決手段】 外部磁界印加手段と磁性部材が存在する領域内を移動する粒子の挙動解析装置において、磁性部材の中心位置データをもとに外部印加磁界により磁化された磁性部材の磁化状態の計算を行う磁性部材の磁化状態の計算部、各粒子の磁化の設定を行う磁性粒子の磁化の設定部、磁化された磁性部材がつくる磁界による各粒子に働く磁気力の計算を行う磁性部材の磁界による磁性粒子の磁気力の計算部、各粒子に働く印加磁界や他の磁性粒子による磁気力の計算を行う印加磁界や磁性粒子による磁気力の計算部によって構成された磁性粒子に働く磁気力の計算部を有する磁性粒子の挙動解析装置。
Claim (excerpt)：
外部磁界印加手段と磁性部材が存在する領域内を移動する粒子の挙動解析装置において、磁性部材の中心位置データをもとに外部印加磁界により磁化された磁性部材の磁化状態の計算を行う磁性部材の磁化状態の計算部、各粒子の磁化の設定を行う磁性粒子の磁化の設定部、磁化された磁性部材がつくる磁界による各粒子に働く磁気力の計算を行う磁性部材の磁界による磁性粒子の磁気力の計算部、各粒子に働く印加磁界や他の磁性粒子による磁気力の計算を行う印加磁界や磁性粒子による磁気力の計算部、によって構成された磁性粒子に働く磁気力の計算部を有する磁性粒子の挙動解析装置であって、磁性粒子に働く磁界を、外部印加磁界と、外部印加磁界により磁化された磁性部材がつくる磁界の重ね合わせで表されるとし、さらに磁性粒子に働く磁気力を、外部印加磁界や磁性粒子同士による磁気力と、磁性部材による磁気力の重ね合わせで表されるとし、磁性部材の位置データをもとに外部印加磁界による磁性部材の磁化状態を求め、各粒子の位置における磁化された磁性部材がつくる磁界分布に基づいて磁性部材による磁気力を求めることを特徴とした磁性粒子の挙動解析装置。
IPC (3)：
G01R 33/02 ,  G01N 27/72 ,  G06F 19/00 110
FI (3)：
G01R 33/02 Z ,  G01N 27/72 ,  G06F 19/00 110
F-Term (8)：
2G017AA08 ,  2G017BA15 ,  2G053AA00 ,  2G053AB01 ,  2G053AB15 ,  2G053BA04 ,  2G053BB11 ,  2G053BC10
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (5)
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