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J-GLOBAL ID:200903073960146029

X線照射位置合わせ方法並びにX線断層撮影方法および装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 井島 藤治 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998331134
Publication number (International publication number):2000152925
Application date: Nov. 20, 1998
Publication date: Jun. 06, 2000
Summary:
【要約】【課題】 スキャン開始当初からX線照射位置を定位置に一致させるX線照射位置合わせ方法、並びに、そのようにX線照射位置合わせをして撮影を行うX線断層撮影方法および装置を実現する。【解決手段】 X線照射・検出装置により被検体をスキャンするに当たり、スキャン開始前のX線管20の温度およびこれから行おうとするスキャン条件に基づきX線焦点の位置を予測し、X線がX線検出器24の定位置に照射するようにコリメータ22またはX線検出器24の位置を調節する。
Claim (excerpt):
X線管から発生したX線をコリメータを通してX線検出器に照射するX線照射・検出装置により被検体をスキャンして断層撮影を行うに当たり、スキャン開始前の前記X線管の温度およびこれから行おうとするスキャン条件に基づき前記X線管におけるX線焦点の位置を予測し、前記X線管から発生したX線が前記X線検出器における定位置に照射するように前記予測した位置に応じて前記コリメータおよび前記X線検出器のうちのいずれか一方または両方の位置を調節する、ことを特徴とするX線照射位置合わせ方法。
IPC (4):
A61B 6/03 320 ,  A61B 6/03 ,  A61B 6/03 331 ,  A61B 6/03 350
FI (4):
A61B 6/03 320 P ,  A61B 6/03 320 H ,  A61B 6/03 331 ,  A61B 6/03 350 G
F-Term (8):
4C093AA22 ,  4C093BA03 ,  4C093CA13 ,  4C093EA14 ,  4C093EB18 ,  4C093EB21 ,  4C093FA45 ,  4C093FA54
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
  • X線CT装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平8-280880   Applicant:株式会社日立メディコ
  • X線コンピュータトモグラフィ装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平4-325159   Applicant:株式会社東芝
  • X線CT装置およびX線断層像撮影方法
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平6-208347   Applicant:ジーイー横河メディカルシステム株式会社
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