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J-GLOBAL ID：200903074084442711

偏光解析装置および偏波モード分散測定装置

Inventor： 南 隆生
Applicant, Patent owner： 安藤電気株式会社
Agent (1)： 志賀 正武 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995011089
Publication number (International publication number)：1996201175
Application date： Jan. 26, 1995
Publication date： Aug. 09, 1996
Summary：

【要約】【目的】 従来の装置に比べて簡単な構成により、被測定光の偏光状態を高速で測定する。【構成】 ビームスプリッタ1〜4等により、解析対象たるレーザ光を4分岐させ、そのうち3個の分岐光を偏光子5,8,10を通過させ、レーザ光および各偏光子の出射光の各パワー値を各々検出器6,7,9,11により検出する。そして、CPU16は、各検出器によって検出された各パワー値と各偏光子の各々の偏波面の角度とに基づいて解析対象たる光の偏光状態を演算する。

Claim (excerpt)：

解析対象たる光を4分岐させる分岐手段と、前記分岐手段より得られた各分岐光から各々偏波面が相互に所定角度ずつ回転した偏波を生成する偏波生成手段と、前記偏波生成手段から得られる各偏波の各パワー値を各々検出する検出手段と、前記各パワー値と前記偏波生成手段から得られる各偏波の偏波面間の回転角度とに基づいて前記解析対象たる光の偏光状態を演算する演算手段とを具備することを特徴とする偏光解析装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 偏光解析方法および薄膜測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-233041   Applicant：キヤノン株式会社
• ストークス・パラメータ測定方法及び装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-174557   Applicant：国際電信電話株式会社
• 光装置の偏光モード分散判定装置および方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-032861   Applicant：ヒューレット・パッカード・カンパニー