蛍光体検査方法及び装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (3)：高矢諭 , 松山圭佑 , 牧野剛博
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002329734
Publication number (International publication number)：2004165013
Application date： Nov. 13, 2002
Publication date： Jun. 10, 2004
Summary：

【課題】蛍光体の混色や色抜けと共に、蛍光体下異物を検査できるようにする。【解決手段】RGBの各色をそれぞれ発光する蛍光体が配列形成されている検査対象物であるワーク(PDP)10を検査する際、前記ワーク10における所定の検査位置に対して、UV光源36から供給される紫外光をライトガイド22により斜めに照射し、カメラ20により撮像して検査画像を入力する。【選択図】図3

Claim (excerpt)：

RGBの各色をそれぞれ発光する蛍光体が配列形成されている検査対象物を検査する蛍光体検査方法であって、前記検査対象物における蛍光体形成面に対して、紫外光を斜めに照射して撮像することを特徴とする蛍光体検査方法。

IPC (2)：

H01J9/42 , H01J11/02

FI (2)：

H01J9/42 A , H01J11/02 B

F-Term (3)：

5C012AA09 , 5C012BE03 , 5C040JA26

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (8)

プラズマディスプレイ蛍光体検査装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-315528 Applicant：松下電器産業株式会社
蛍光体塗布むら検査方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-163200 Applicant：株式会社日立製作所
蛍光体検査方法及び蛍光体検査装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2002-376207 Applicant：株式会社日立国際電気

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