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J-GLOBAL ID:200903074587303409

画像取得装置、画像取得方法、及び画像取得プログラム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 長谷川 芳樹 ,  寺崎 史朗 ,  石田 悟
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2006055547
Publication number (International publication number):2007233098
Application date: Mar. 01, 2006
Publication date: Sep. 13, 2007
Summary:
【課題】 試料内に複数の対象物が含まれる場合でも、そのそれぞれの画像を好適に取得することが可能な画像取得装置、画像取得方法、及び画像取得プログラムを提供する。【解決手段】 ミクロ画像取得部30による試料Sのミクロ画像の取得について、画像取得の対象となる試料Sに対して複数の画像取得範囲が設定された場合に、それに対応して複数の焦点情報を設定するとともに、さらに、ミクロ画像取得部30で試料Sを走査して取得される複数の部分画像のうちで、複数の画像取得範囲が混在している部分画像がある場合に、その部分画像の走査において途中で焦点情報を切り換える構成とする。これにより、試料S内に複数の対象物が含まれる場合でも、そのそれぞれの画像を好適に取得することが可能となる。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
試料を所定の解像度で走査して、そのミクロ画像を取得するためのミクロ画像取得手段と、 前記試料に対して、画像取得の対象物を含む範囲に応じた画像取得範囲、及び前記画像取得範囲での前記対象物の画像取得についての焦点情報を設定する撮像条件設定手段と、 前記ミクロ画像取得手段による前記ミクロ画像の取得動作を制御するミクロ画像取得制御手段とを備え、 前記ミクロ画像取得手段は、1次元画像または2次元画像の取得が可能な撮像装置を有するとともに、前記撮像装置での撮像面における一の方向を前記ミクロ画像を取得する際の走査方向として構成され、 前記ミクロ画像取得制御手段は、前記撮像装置によって前記試料を前記走査方向に走査して部分画像を取得し、この部分画像の取得を前記撮像面の他の方向に沿って撮像位置をずらしながら複数回繰返して、前記ミクロ画像となる複数の部分画像を取得させる制御を行い、 前記撮像条件設定手段は、前記画像取得範囲として少なくとも第1画像取得範囲、及び第2画像取得範囲が設定された場合に、それに対応して前記焦点情報として第1焦点情報、及び第2焦点情報を設定し、かつ、前記複数の部分画像に含まれる部分画像について、前記第1画像取得範囲に属する第1領域と、前記第2画像取得範囲に属する第2領域とが混在する場合に、前記第1領域と前記第2領域とのそれぞれで、前記焦点情報を前記第1焦点情報と前記第2焦点情報とで切り換えて、その部分画像を取得するための前記試料の走査を行うことを特徴とする画像取得装置。
IPC (2):
G02B 21/06 ,  G02B 21/36
FI (2):
G02B21/06 ,  G02B21/36
F-Term (7):
2H052AA08 ,  2H052AC15 ,  2H052AD06 ,  2H052AD20 ,  2H052AF14 ,  2H052AF21 ,  2H052AF25
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
  • 米国特許第6816606号公報
Cited by examiner (4)
  • 顕微鏡装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2002-097498   Applicant:独立行政法人放射線医学総合研究所, セイコープレシジョン株式会社
  • 顕微鏡画像撮影装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2003-394435   Applicant:オリンパス株式会社
  • 観察装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2003-150429   Applicant:株式会社ニコン
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