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J-GLOBAL ID:200903074665584274

波長分散測定装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 雨貝 正彦
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999137881
Publication number (International publication number):2000329650
Application date: May. 18, 1999
Publication date: Nov. 30, 2000
Summary:
【要約】【課題】 敷設後の光ファイバによって形成される光伝送路の特定箇所又は特定の伝送経路における波長分散を測定できるようにする。【解決手段】 光伝送路に所定波長の光パルスを入射すると、各接続部5、6や光ファイバ先端部7で反射及び散乱した反射光や後方散乱光が戻って来るので、波長分散測定装置10は、その戻り光を検出し、その戻り光の遅延量を測定する。この遅延量は被測定光ファイバに入射した光パルスが各接続部5、6及び光ファイバ先端部7で反射及び散乱して戻ってくるまでの時間に対応しており、それに基づいてさらに接続部間に設けられた個々の光ファイバを通過することによって生じる遅延量を測定することができる。波長分散測定装置10は、これらの遅延量の測定を波長を所定単位毎に可変しながら行い、所定波長における遅延量を順次測定し、その遅延量を波長で微分して所定波長における分散を測定する。
Claim (excerpt):
所定の波長を有する光パルスを被測定光ファイバの一方端に入射する光パルス生成手段と、前記光パルスに対応して前記被測定光ファイバの一方端から出射される戻り光を検出する光検出手段と、前記光検出手段によって検出された前記戻り光の遅延量を測定する遅延量測定手段と、前記遅延量測定手段によって測定された前記戻り光の遅延量と、前記光パルス生成手段から前記被測定光ファイバに入射された前記光パルスの波長とに基づいて、前記被測定光ファイバの波長分散を求める解析手段と、を備えることを特徴とする波長分散測定装置。
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (8)
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