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J-GLOBAL ID:200903075929916374

ファイバグレーティング型温度センサ及び温度計測システム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 山川 政樹
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002151897
Publication number (International publication number):2003344183
Application date: May. 27, 2002
Publication date: Dec. 03, 2003
Summary:
【要約】【課題】 外力の影響を受けることなく安定した温度計測を可能とする。【解決手段】 ファイバグレーティング型温度センサの検出素子部は、光ファイバ1と、この光ファイバ1の一部に形成されたファイバグレーティング2と、このファイバグレーティング2の両端部の光ファイバ1をファイバグレーティング2との接触を避けつつ保持する固定部材4とを有する。
Claim (excerpt):
ファイバグレーティングを用いる検出素子部を備えたファイバグレーティング型温度センサにおいて、前記検出素子部は、光ファイバと、この光ファイバの一部に形成されたファイバグレーティングと、このファイバグレーティングの両端部の前記光ファイバを前記ファイバグレーティングとの接触を避けつつ保持する固定部材とを有することを特徴とするファイバグレーティング型温度センサ。
IPC (2):
G01K 11/12 ,  G02B 6/00 346
FI (2):
G01K 11/12 F ,  G02B 6/00 346
F-Term (4):
2F056VF03 ,  2F056VF11 ,  2H038BA25 ,  2H038CA52
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
  • 光ファイバ温度センサ
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平7-092533   Applicant:住友電気工業株式会社
  • 光ファイバグレーティングの固定構造
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平10-267102   Applicant:株式会社フジクラ
  • 光ファイバセンサ
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平10-278754   Applicant:エヌ・ティ・ティ・アドバンステクノロジ株式会社
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