電子スピン共鳴測定装置および電子スピン共鳴測定方法

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：森哲也
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007160254
Publication number (International publication number)：2008309749
Application date： Jun. 18, 2007
Publication date： Dec. 25, 2008
Summary：

【課題】空洞共振器を用いることなく、電子スピン共鳴を測定する。【解決手段】電子スピン系に磁場を印加することで、電子スピン系のエネルギー準位を分裂させる磁場発生部8、エネルギー準位が分裂された電子スピン系に光を照射することで、その分裂幅またはその分裂幅の近傍のエネルギーに共鳴する実効的な振動磁場を発生させる実効振動磁場発生光源部6およびエネルギー準位の分裂幅またはその分裂幅の近傍のエネルギーへの共鳴に伴う物理現象の変化を検出する電子スピン検出部7を設け、実効振動磁場発生光源部6にて発生されたビートを有するレーザ光を試料9に照射し、その時の試料9の光学特性変化または電気特性変化を電子スピン検出部7にて検出する。【選択図】図2

Claim (excerpt)：

電子スピン系のエネルギー準位を分裂させるエネルギー準位分裂手段と、前記電子スピン系に光を照射することで、前記分裂幅または前記分裂幅の近傍のエネルギーに共鳴する実効的な振動磁場を発生させる実効振動磁場発生手段と、前記共鳴に伴う物理現象の変化を検出する電子スピン検出手段とを備えることを特徴とする電子スピン共鳴測定装置。

IPC (1)：

G01N 24/10

FI (2)：

G01N24/10 510M , G01N24/10 510L

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

電子スピン共鳴測定法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平3-269173 Applicant：株式会社日立製作所
電子スピン共鳴の測定法および電子スピン共鳴測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-255858 Applicant：財団法人山形県テクノポリス財団
特開昭63-263456

Cited by examiner (3)

電子スピン共鳴測定法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平3-269173 Applicant：株式会社日立製作所
電子スピン共鳴の測定法および電子スピン共鳴測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-255858 Applicant：財団法人山形県テクノポリス財団
特開昭63-263456

Article cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

Cited by examiner (2)

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