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J-GLOBAL ID:200903076629767845
半導体素子の製造方法および半導体発光素子の製造方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
佐藤 一雄 (外3名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999321117
Publication number (International publication number):2001144322
Application date: Nov. 11, 1999
Publication date: May. 25, 2001
Summary:
【要約】【課題】 接着工程の熱処理による発光部への悪影響を回避して、発光効率の良好な半導体発光素子を提供する。【解決手段】 n型GaAs基板10上に、エピタキシャル成長によりn型GaAsバッファー層44とn型InGaAlPバッファー層34とを形成し、n型InGaAlPバッファー層34にn型GaP基板30を接着する。続いて、n型GaAs基板10とn型GaAsバッファー層44とを除去し、このn型GaAsバッファー層44を除去した面のn型InGaAlPバッファー層34上に、n型InAlPクラッド層14とInGaAlP活性層16とp型InAlPクラッド層18とからなる発光部20をエピタキシャル成長により形成する。
Claim (excerpt):
第1の半導体基板上に、この第1の半導体基板と格子整合する1又は複数の第1の半導体層を形成する工程と、前記第1の半導体層に第2の半導体基板を接着する工程と、前記第1の半導体基板を除去する工程と、前記第1の半導体層の前記第1の半導体基板を除去した面に、1又は複数の第2の半導体層を形成する工程と、を備えるすることを特徴とする半導体素子の製造方法。
F-Term (11):
5F041AA04
, 5F041CA04
, 5F041CA05
, 5F041CA34
, 5F041CA35
, 5F041CA37
, 5F041CA53
, 5F041CA65
, 5F041CA73
, 5F041CA77
, 5F041CA88
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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半導体基板、半導体装置、半導体発光装置とその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-300441
Applicant:富士通株式会社
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光半導体素子およびその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-200025
Applicant:古河電気工業株式会社
-
発光ダイオードの製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-320334
Applicant:シャープ株式会社
-
発光ダイオード及びその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-042710
Applicant:シャープ株式会社
-
エピタキシャル成長用基板及び半導体発光素子
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-305823
Applicant:日本電気株式会社
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