距離計測方法およびその装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：西川惠清 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999304730
Publication number (International publication number)：2001124855
Application date： Oct. 26, 1999
Publication date： May. 11, 2001
Summary：

【要約】【課題】比較的短い時間でかつ精度よく距離を測定する。【解決手段】半導体レーザ11によりパルス状のレーザ光を放射し、ビームスプリッタ12により、物体1に照射される物体波と参照波とに分岐する。物体波の物体1による反射波と参照波とを一つのフォトダイオード21により受波する。フォトダイオード21から出力される信号成分は、マスク発生回路24において反射波に対応する反射信号成分と参照波に対応する参照信号成分とに分離される。反射信号成分と参照信号成分とについて遅延回路15で遅延させた信号により半導体レーザ11をトリガする動作をカウンタ25のカウントアップまでそれぞれ繰り返すとともにその時間を積算する。反射信号成分について求めた時間から参照信号成分について求めた時間を減算すれば物体1までの距離に対応した時間が得られ、この時間が距離に換算される。

Claim (excerpt)：

パルス状の電磁波を送波するとともに送波された電磁波の一部が物体に照射される物体波となり残りが参照波となるように分岐し、物体波の前記物体による反射波と前記参照波とを一つの受波手段により受波し、受波手段より出力される信号成分を反射波に対応する反射信号成分と参照波に対応する参照信号成分とに分離し、電磁波の送波から反射波の受波までの時間を距離に換算して前記物体までの距離を計測する距離計測方法であり、反射信号成分を所定の遅延時間だけ遅延させたタイミングでパルス状の電磁波を送波する動作を規定回数繰り返すとともに最初に反射信号成分を検出してから前記規定回数に達するまでに要した時間を積算する第1の期間と、参照信号成分を上記遅延時間だけ遅延させたタイミングでパルス状の電磁波を送波する動作を前記規定回数繰り返すとともに最初に参照信号成分を検出してから前記規定回数に達するまでに要した時間を積算する第2の期間とを設け、第1の期間で求めた積算値から第2の期間で求めた積算値を減算し、減算結果を前記規定回数から1を引いた値で除算し、除算の結果を電磁波の送波から反射波の受波までの時間として用いることを特徴とする距離計測方法。

IPC (2)：

G01S 17/10 , G01B 11/00

FI (2)：

G01S 17/10 , G01B 11/00 B

F-Term (43)：

2F065AA06 , 2F065DD03 , 2F065DD06 , 2F065EE01 , 2F065FF12 , 2F065GG06 , 2F065GG12 , 2F065HH04 , 2F065HH13 , 2F065JJ01 , 2F065JJ18 , 2F065KK02 , 2F065LL02 , 2F065NN02 , 2F065PP22 , 2F065QQ11 , 2F065QQ13 , 2F065QQ42 , 2F065QQ53 , 2F065UU05 , 5J084AA05 , 5J084AD01 , 5J084BA04 , 5J084BA14 , 5J084BA36 , 5J084BA52 , 5J084BB02 , 5J084BB14 , 5J084BB24 , 5J084BB31 , 5J084CA03 , 5J084CA10 , 5J084CA12 , 5J084CA21 , 5J084CA44 , 5J084CA45 , 5J084CA64 , 5J084CA80 , 5J084DA01 , 5J084EA04 , 5J084EA05 , 5J084EA12 , 5J084FA01

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (6)

特開平3-264885
特開平1-169381
特開平1-257289

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