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J-GLOBAL ID：200903077073317957

測距装置

Inventor：
野中 修

About 野中 修


Applicant, Patent owner：
オリンパス光学工業株式会社

About オリンパス光学工業株式会社


Agent (1)： 鈴江 武彦 (外4名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997334300
Publication number (International publication number)：1999166825
Application date： Dec. 04, 1997
Publication date： Jun. 22, 1999
Summary：
【要約】【課題】従来の測距装置は、樹脂等で形成されたレンズ系の光学部品の温度変化が考慮されていてもレンズの温度変化を直接的に検出して温度補正を施していないため、補正自体が不適当な場合があり、正確な測距ができなかった。【解決手段】本発明は、カメラ11に搭載された測距ユニット4を実装する基板14上に実装され、測距ユニット4に接し若しくは近接して温度変化を検出する温度検出部6を配置することにより、測距時に大きな温度特性の原因となる測距ユニットの光学系等の材質に作用する温度変化を測定して、正確な補正値を算出し、演算される距離を補正する測距装置である。
Claim (excerpt)：
被写体からの像信号を受光するための受光レンズ及びイメ-ジセンサと、該イメージセンサの出力信号を処理する処理回路とからなる測距装置において、上記イメージセンサの端子部と上記処理回路端子部とを接続するための電気回路基板と、上記受光レンズと上記イメージセンサとを保持する保持部と、を具備し、上記電気回路基板に延長部を設け、この延長部に温度検出素子を配すると供に、上記保持部に沿った形で上記延長部を配置することを特徴とする測距ユニット。
IPC (4)：
G01C 3/06 ,  G01B 11/00 ,  G02B 7/30 ,  G03B 13/36
FI (4)：
G01C 3/06 A ,  G01B 11/00 B ,  G02B 7/11 A ,  G03B 3/00 A
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (9)
  • 特開昭60-235110
  • 特公平8-033511
  • 撮像装置及び映像機器システム
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-116261   Applicant：キヤノン株式会社
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Cited by examiner (9)
  • 特開昭60-235110
  • 撮像装置及び映像機器システム
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-116261   Applicant：キヤノン株式会社
  • ディスクドライブ装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-177059   Applicant：ソニー株式会社
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