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J-GLOBAL ID：200903077287538209

超音波検査装置及び方法

Inventor： 早川 学 ,  帯川 元
Applicant, Patent owner： 東京電力株式会社
Agent (1)： 三谷 惠
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004218218
Publication number (International publication number)：2006038608
Application date： Jul. 27, 2004
Publication date： Feb. 09, 2006
Summary：

【課題】 被検査体の表面の曲率による超音波ビーム路程の誤差を補正し被検査体部位のきずの大きさを測定できる超音波検査装置を提供することである。【解決手段】 被検査体11の表面上に所定の間隔を保って配置された2個の超音波探触子12a、12bの一方から被検査体11の表面直下を伝搬するSV波を送信し、他方で受信して超音波ビーム路程測定手段14で超音波ビーム路程を測定する。一方、補正演算手段18は曲面データ測定装置20で測定された曲面データに基づいて被検査体11の面形状による超音波ビーム路程を算出する。きず測定手段16は、被検査体11の面形状による超音波ビーム路程を加味して超音波ビーム路程を補正し、2個の超音波探触子12a、12b間の被検査体部位にきずがない場合の超音波ビーム路程とを比較し、きずの大きさを測定する。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

被検査体の表面上に所定の間隔を保って配置された2個の超音波探触子と、前記2個の超音波探触子の一方の超音波探触子から前記被検査体の表面直下を伝搬するSV波を送信し他方の超音波探触子で受信して超音波ビーム路程を測定する超音波ビーム路程測定手段と、前記2個の超音波探触子間における前記被検査体の面形状の曲面データを測定する曲面データ測定装置と、前記曲面データ測定装置で測定された曲面データに基づいて前記面形状による超音波ビーム路程を算出する補正演算手段と、前記補正演算手段で算出された前記面形状による超音波ビーム路程を加味して前記超音波ビーム路程測定手段で測定された超音波ビーム路程を補正し、補正された超音波ビーム路程と前記2個の超音波探触子間の被検査体部位にきずがない場合の超音波ビーム路程とを比較し前記2個の超音波探触子間の被検査体部位のきずの大きさを測定するきず測定手段とを備えたことを特徴とする超音波検査装置。

IPC (1)：

G01N 29/04

FI (1)：

G01N29/08 501

F-Term (11)：

2G047AA07 ,  2G047BA01 ,  2G047BB04 ,  2G047BC10 ,  2G047CB03 ,  2G047DA01 ,  2G047EA10 ,  2G047GA03 ,  2G047GG30 ,  2G047GG33 ,  2G047GG41

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 超音波探傷方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-204797   Applicant：日本鋼管株式会社
• 偏波探傷法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-161774   Applicant：株式会社日立製作所, 日立エンジニアリング株式会社