粒子検出装置とこれを用いた空調装置

Inventor： , , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：岡田敬
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994223685
Publication number (International publication number)：1996086739
Application date： Sep. 19, 1994
Publication date： Apr. 02, 1996
Summary：

【要約】【目的】所望粒子径の粒子を検出する安価な粒子検出装置とこれを用いた空調装置を提供することを目的とする。【構成】レーザ光を出力する半導体レーザ1と、半導体レーザ1から出力されるレーザ光を粒子に照射するための平行光に変換するコリメータレンズ2と、変換されたレーザ光が所定粒子径を有する粒子により回折されてなる光のうち、回折光強度分布において所定の副極大又はその近傍にある部分の光を取り出せるリング状受光面5aを有する光検出器5と、を備えた。

Claim (excerpt)：

粒子に平行光をなすレーザ光を照射するための光源手段と、該レーザ光の照射による所望粒子径の粒子からの回折光を選択的に受光するように配置されたリング状受光面を有する光検出器と、からなることを特徴とする粒子検出装置。

IPC (3)：

G01N 15/14 , F24F 13/28 , G01B 11/08

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (9)

特開昭62-228136
粒度分布測定器の検定基準用固定標本の製造方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-304431 Applicant：株式会社セイシン企業
粒度分布測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-022259 Applicant：株式会社小野測器

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