設備診断装置

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (8)：三好秀和 , 三好保男 , 岩▲崎▼ 幸邦 , 川又澄雄 , 中村友之 , 伊藤正和 , 高橋俊一 , 高松俊雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002295412
Publication number (International publication number)：2004133553
Application date： Oct. 08, 2002
Publication date： Apr. 30, 2004
Summary：

【課題】設備機器の故障予知や、正確で迅速な故障原因追跡を行い原因個所を指摘し、オペレータの運転や設備管理者の設備保全を支援する。【解決手段】機器が故障した時、プロセス履歴データベース42内の計測データから、故障に至るまでの履歴データ変化の傾向を解析する履歴データ解析手段43と、その解析結果から同種の機器の計測データの履歴変化を監視することで故障を予知する機器異常進行監視手段44と、故障データベース45を解析することで各ビルの各機器故障データ集団の分布タイプを同定する故障時間分布タイプ同定手段46と、この結果に基づき異なる分布タイプ毎に分けて蓄えられたタイプ毎故障データベース45N〜45EXから同種の機器の故障データを組み合わせて故障データ集団の各タイプの分布パラメータを求める分布パラメータ推定手段47と、機器異常進行監視手段44と分布パラメータ推定手段47からの情報に基づいて、各ビルの設備機器の故障予知、異常進行個所発見等を行う設備診断手段48とを備える。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

監視対象側から入力されたプロセス値データや機器故障データを定期的にかつ、各監視対象別に分類・編集してプロセス履歴データベース及び故障データベースに蓄積するデータ収集・分類・記憶手段と、監視対象となる機器が故障した時、前記プロセス履歴データベースに蓄積されたその機器に関連する計測データに基づき、故障に至るまでの履歴データ変化の傾向を解析する履歴データ解析手段と、この履歴データ解析手段の解析結果を用いて各監視対象における同種の機器の計測データの履歴変化を監視することにより、当該監視対象となる機器の故障を予測する機器異常進行監視手段と、前記故障データベースを解析することにより、各監視対象における各機器故障データ集団の分布タイプを同定する故障時間分布タイプ同定手段と、この故障時間分布タイプ同定手段の同定結果に基づいて、異なる分布タイプ毎に分けて蓄えられたタイプ毎故障データベースから、同種の機器の故障データを組み合わせて故障データ集団の各タイプの分布パラメータを求める分布パラメータ推定手段と、前記機器異常進行監視手段と分布パラメータ推定手段からの情報に基づいて、各監視対象における設備機器の故障予知、異常進行個所発見を行う設備診断手段と、を具備したことを特徴とする設備診断装置。

IPC (4)：

G05B23/02 , B66B3/00 , B66B5/00 , F24F11/02

FI (4)：

G05B23/02 302Y , B66B3/00 R , B66B5/00 G , F24F11/02 103D

F-Term (18)：

3F303BA01 , 3F303CB42 , 3F303DC35 , 3F303EA03 , 3F303EA08 , 3F304BA26 , 3F304EA22 , 3F304ED13 , 3F304ED16 , 3L061BA07 , 5H223AA09 , 5H223AA11 , 5H223CC03 , 5H223DD07 , 5H223DD09 , 5H223EE11 , 5H223EE30 , 5H223FF05

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

電子部品の寿命診断方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-345060 Applicant：株式会社東芝
特開昭59-188575
品質情報診断解析方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-132196 Applicant：株式会社日立製作所

Show all

Return to Previous Page