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J-GLOBAL ID：200903078448155107

光学特性測定装置

Inventor： 三橋 俊文 ,  福間 康文
Applicant, Patent owner： 株式会社トプコン
Agent (1)： 和泉 雄一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997042940
Publication number (International publication number)：1998216092
Application date： Feb. 12, 1997
Publication date： Aug. 18, 1998
Summary：

【要約】 (修正有)【課題】 本発明は、被検眼の光学特性を精密に測定する装置に係わり、特に、不正乱視成分の光学特性を測定可能な光学特性測定装置を提供する。【解決手段】 照明光学系が、照明用の光源からの光束で被検眼網膜上で微小な領域を照明し、受光光学系が、被検眼網膜から反射して戻ってくる光束を受光して受光部に導き、変換部材が、この反射光束を少なくとも17本のビームに変換し、受光部が、変換部材で変換された複数の光束を受光し、光学特性演算部が、受光部で得られた光束の傾き角に基づいて被検眼の光学特性を求める様に構成されている。

Claim (excerpt)：

照明用の光源と、該光源からの光束で被検眼網膜上で微小な領域を照明するための照明光学系と、被検眼網膜から反射して戻ってくる光束を受光し受光部に導くための受光光学系と、この反射光束を少なくとも17本のビームに変換するための変換部材と、該変換部材で変換された複数の光束を受光する受光部と、この受光部で得られた光束の傾き角に基づいて被検眼の光学特性を求めるための光学特性演算部とから構成される光学特性測定装置。

IPC (2)：

A61B 3/10 ,  A61B 3/036

FI (2)：

A61B 3/10 M ,  A61B 3/02 G

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 眼科用屈折計
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-323673   Applicant：キヤノン株式会社
• 眼科測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-263117   Applicant：キヤノン株式会社