偏光光学時間領域反射率測定を用いたファイバPMDの評価方法

Inventor： , , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (2)：柳田征史 , 佐久間剛
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2004551628
Publication number (International publication number)：2006505791
Application date： Oct. 28, 2003
Publication date： Feb. 16, 2006
Summary：

偏光型光学時間領域反射率計を用いたファイバの偏光モード分散の選別方法に関する。パルス放射線が試験用のファイバの中に放射され、後方散乱される放射線がPOTDRによって測定され、POTDRトレースを得るために用いられる。次に、POTDRトレースがファイバの長さに沿って信号の変動と比較するために解析される。この信号の変動は、ファイバの長さに沿ってPMDのレベルに関連付けられる。高いレベルのPMDは局所的なレベルの低い変動性に対応するため、信号の閾値の変動性を十分に低く設定することによって、許容可能でないほど高い局所的なPMDを有するファイバを識別して、排除することができる。

Claim (excerpt)：

光ファイバにおける偏光モード分散を測定する方法であって、一定の長さの光ファイバに放射線のパルスを放射するステップと、前記パルス放射線から前記ファイバを通って後方に後方散乱される放射線を測定するステップと、前記測定された後方散乱放射線の強度レベルの変動を解析し、強度レベルの変動の前記レベルを前記ファイバにおける前記偏光モード分散に関連付けるステップと、を有してなり、前記解析ステップが、データのスライディングウィンドウにわたって強度の変動を解析し、データの前記ウィンドウを前記ファイバの長さに沿って長さ方向に移動すると同時に、強度の前記変動を解析し続けて、それによって前記ファイバの前記長さに沿って強度の局所的な変動に関連する情報を生成するステップを含むことを特徴とする方法。

IPC (1)：

G01M 11/02

FI (1)：

G01M11/02 K

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

光ファイバの偏波モード分散分布測定方法及び装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-233772 Applicant：アンリツ株式会社, 小関健
偏波モード分散測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-139322 Applicant：株式会社アドバンテスト
光送信路での制御およびモニタリングの計測を実行する方法およびシステム
Gazette classification：公表公報 Application number：特願2000-559661 Applicant：ドイッチェテレコムアーゲー

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