偏波モード分散測定装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：雨貝正彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999139322
Publication number (International publication number)：2000329651
Application date： May. 19, 1999
Publication date： Nov. 30, 2000
Summary：

【要約】【課題】敷設後の光ファイバによって形成される光伝送路の特定箇所又は特定の伝送経路における偏波モード分散を測定できるようにする。【解決手段】偏波モード分散測定装置10は、光伝送路に所定波長の光パルスを入射し、各接続部5,6や光ファイバ先端部7で反射及び散乱した反射光や後方散乱光の戻り光に基づいてp偏光成分及びs偏光成分の光の振幅値及びp偏光成分の光とs偏光成分の光との間の位相差を測定する。このとき、偏波コントローラ16は被測定光ファイバに入射される光パルスの偏波状態を第1及び第2の偏波状態に変換する。偏波モード分散測定装置10は、第1及び第2の偏光状態の光パルスに対応したp偏光成分及びs偏光成分の光の各振幅値と、p偏光成分とs偏光成分の光の各位相差をそれぞれ測定し、測定された振幅値及び位相差に基づいて所定の演算処理を行い、所定の波長の光パルスに対する偏波モード分散を算出する。

Claim (excerpt)：

所定の波長を有する光パルスを出射する光パルス生成手段と、前記光パルス生成手段によって生成された前記光パルスの偏波状態を制御して被測定光ファイバの一方端に入射する偏波制御手段と、偏波状態が制御された前記光パルスに対応して前記被測定光ファイバの一方端から出射される戻り光をp偏光成分とs偏光成分とに分けて出射する偏光成分分離手段と、前記偏光成分分離手段によって分けられた前記戻り光のp偏光成分とs偏光成分のそれぞれを検出する光検出手段と、前記光検出手段によって検出された前記戻り光のp偏光成分とs偏光成分の振幅値をそれぞれ測定する振幅測定手段と、前記光検出手段によって検出された前記戻り光のp偏光成分とs偏光成分との間の位相差を測定する位相差測定手段と、前記振幅測定手段によって測定された前記戻り光のp偏光成分とs偏光成分のそれぞれの振幅値と、前記位相差測定手段によって測定された前記戻り光のp偏光成分とs偏光成分との間の位相差と、前記光パルス生成手段から前記被測定光ファイバに入射された前記光パルスの波長とに基づいて、前記被測定光ファイバの偏波モード分散を求める解析手段と、を備えることを特徴とする偏波モード分散測定装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (12)

偏波モード分散の測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-076735 Applicant：株式会社アドバンテスト, 小関健
特開昭62-207927
特開平4-285836

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