光ファイバの偏波モード分散分布測定方法及び装置

Inventor：
Applicant, Patent owner： ,
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000233772
Publication number (International publication number)：2002048680
Application date： Aug. 01, 2000
Publication date： Feb. 15, 2002
Summary：

【要約】【課題】光ファイバの偏波モード分散分布測定装置を提供する。【解決手段】光パルス発生器1から出射された所望の角周波数、パルス幅を有する光パルスは偏光状態を偏光制御器2で制御され、光結合器3を介して被測定光ファイバ4の一端4aから入射される。光ファイバ4からの後方散乱光を光結合器3を介して受けた偏光状態測定部5はストークスパラメータを出力する。ジョーンズ行列演算部6はストークスパラメータを所望の時間間隔で取り込んでストークスパラメータの時系列データとして蓄え、3種類の偏光状態についてのストークスパラメータの時系列データからジョーンズ行列の時系列を演算する。偏波モード分散分布演算部7はジョーンズ行列の時系列を用いて光ファイバ4の偏光特性を表すパラメータを演算し、2種類の所望の角周波数についての偏光特性を表すパラメータから光ファイバ4の偏波モード分散分布を演算する。

Claim (excerpt)：

被測定光ファイバの入射端に異なる偏光状態を有する光パルスを各々入射し、該入射端と同一の端面側に設けたストークスアナライザを用いて、各々の入射光パルスに対応する前記被測定光ファイバからの後方散乱光の偏光状態をストークスパラメータの時系列データとして測定し、該測定された異なる入射偏光状態に対応するストークスパラメータの時系列データを用いて、前記被測定光ファイバの偏光特性を記述するジョーンズ行列の時系列を演算し、該演算されたジョーンズ行列の時系列を用いて、前記被測定光ファイバの偏光特性を表すパラメータの前記被測定光ファイバに沿った分布を演算する一連の手続き(Step1,Step2,Step3,Step4)を、前記被測定光ファイバの入射端にキャリア周波数の互いに異なる2つの光パルスを入射して行い(Step5,Step6)、各々のキャリア周波数を有する入射光パルスに対応して演算された前記被測定光ファイバの偏光特性の分布を表すパラメータを用いて差分演算を行うことにより、前記被測定光ファイバを透過する光に対応する偏波モード分散の前記被測定光ファイバに沿った分布を測定する(Step7)ことを特徴とする光ファイバの偏波モード分散分布測定方法。

IPC (3)：

G01M 11/02 , G01J 4/04 , G01N 21/21

FI (3)：

G01M 11/02 K , G01J 4/04 A , G01N 21/21 Z

F-Term (12)：

2G059AA02 , 2G059BB15 , 2G059EE05 , 2G059FF04 , 2G059GG04 , 2G059GG08 , 2G059GG09 , 2G059JJ19 , 2G059JJ20 , 2G059JJ22 , 2G059KK04 , 2G059MM01

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

光ファイバー特性測定装置
Gazette classification：公表公報 Application number：特願平10-535513 Applicant：ガルタロツサ,アンドレア
偏波モード分散測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-139322 Applicant：株式会社アドバンテスト
特開昭62-207927

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