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J-GLOBAL ID：200903078736339557

散乱吸収体計測方法及び散乱吸収体計測装置

Inventor：
太田 和義

About 太田 和義

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鈴木 裕昭

About 鈴木 裕昭

, 
山下 大輔

About 山下 大輔


Applicant, Patent owner：
浜松ホトニクス株式会社

About 浜松ホトニクス株式会社


Agent (4)： 長谷川 芳樹 ,  寺崎 史朗 ,  石田 悟 ,  深石 賢治
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006171762
Publication number (International publication number)：2008002908
Application date： Jun. 21, 2006
Publication date： Jan. 10, 2008
Summary：
【課題】 より正確かつ簡易に、装置関数を考慮して散乱吸収体の内部情報を取得する。【解決手段】 散乱吸収体計測方法は、計測対象の散乱吸収体及びリファレンス用の散乱吸収体に対して、所定波長のパルス光を入射する光入射ステップ(S01b,S02b)と、散乱吸収体の内部を伝播したパルス光を検出して光検出信号を取得する光検出ステップ(S01c,S02c)と、検出された光検出信号に基づいて計測波形を取得する信号処理ステップ(S01d,S02d)と、計測対象の散乱吸収体での計測波形に対して、リファレンス用の散乱吸収体での計測波形をデコンボリューションすると共に、リファレンス用の散乱吸収体での理論波形をコンボリューションする処理を行う波形処理ステップ(S03)と、処理された計測波形に基づいて散乱吸収体の内部情報を算出する内部情報算出ステップ(S04)とを含む。【選択図】 図8
Claim (excerpt)：
計測対象の散乱吸収体及びリファレンス用の散乱吸収体に対して、所定波長のパルス光を光入射位置から入射する光入射ステップと、 前記光入射ステップにおいて入射されて前記各散乱吸収体の内部を伝播したパルス光を光検出位置で検出して光検出信号を取得する光検出ステップと、 前記光検出ステップにおいて検出された光検出信号に基づいて、光強度の時間変化を示す計測波形を取得する信号処理ステップと、 前記信号処理ステップ取得された前記計測対象の散乱吸収体での計測波形に対して、前記信号処理ステップにおいて取得された前記リファレンス用の散乱吸収体での計測波形をデコンボリューションすると共に、予め用意された前記リファレンス用の散乱吸収体での理論波形をコンボリューションする処理を行う波形処理ステップと、 前記波形処理ステップにおいて処理された前記計測対象の散乱吸収体での計測波形に基づいて、前記計測対象の散乱吸収体の内部情報を算出する内部情報算出ステップと、 を含む散乱吸収体計測方法。
IPC (2)：
G01N 21/17 ,  A61B 10/00
FI (4)：
G01N21/17 610 ,  A61B10/00 N ,  A61B10/00 T ,  A61B10/00 E
F-Term (23)：
2G059AA01 ,  2G059AA06 ,  2G059BB12 ,  2G059DD20 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE11 ,  2G059FF01 ,  2G059FF04 ,  2G059FF08 ,  2G059FF10 ,  2G059GG01 ,  2G059GG02 ,  2G059GG08 ,  2G059JJ01 ,  2G059JJ17 ,  2G059KK01 ,  2G059KK02 ,  2G059MM01 ,  2G059MM09 ,  2G059MM10 ,  2G059MM14 ,  2G059NN02
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3) Cited by examiner (3)

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