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J-GLOBAL ID:200903079677302390

光計測装置及び光計測方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (5): 小栗 昌平 ,  本多 弘徳 ,  市川 利光 ,  高松 猛 ,  濱田 百合子
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003150955
Publication number (International publication number):2004354157
Application date: May. 28, 2003
Publication date: Dec. 16, 2004
Summary:
【課題】ダイナミックレンジの狭い受光素子であっても、物体を透過又は反射した光を精度良く測定することができる安価な光計測装置を提供する。【解決手段】物質量測定装置100は、検体設置部1に設置された検体に光を照射する光源2と、検体に照射される光の強度を変化させる光可変部3と、検体を透過又は反射した光を受光するエリアセンサ6と、光可変部3による光の強度の状態と、エリアセンサ6で受光した光の光量に応じた測定結果を出力するコンピュータ7とを備える。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
物体に光を照射する照射手段と、 前記物体に照射される光の強度を変化させる光可変手段と、 前記物体を透過又は反射した光を受光する受光素子と、 前記光可変手段の状態と、前記受光素子で受光した光の光量に応じた測定結果を出力する出力手段とを備える光計測装置。
IPC (4):
G01N21/47 ,  G01N21/01 ,  G01N21/27 ,  G01N21/59
FI (6):
G01N21/47 E ,  G01N21/01 D ,  G01N21/27 B ,  G01N21/27 F ,  G01N21/27 Z ,  G01N21/59 Z
F-Term (20):
2G059AA01 ,  2G059BB11 ,  2G059BB12 ,  2G059BB13 ,  2G059BB20 ,  2G059CC16 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059FF08 ,  2G059GG06 ,  2G059GG09 ,  2G059HH02 ,  2G059JJ03 ,  2G059JJ25 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM02 ,  2G059MM10 ,  2G059MM12 ,  2G059PP04
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (9)
  • 特開平1-282446
  • 特開平1-282446
  • 分光光量可変装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平5-002313   Applicant:東京瓦斯株式会社
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