Pat
J-GLOBAL ID：200903079751366702

スケーラブル・マルチスライス走査コンピュータ断層撮影システム用のフォトダイオード・アレイ

Inventor：
デイヴィッド・マイケル・ホフマン

About デイヴィッド・マイケル・ホフマン


Applicant, Patent owner：
ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ

About ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ


Agent (1)： 生沼 徳二 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998335556
Publication number (International publication number)：1999231062
Application date： Nov. 26, 1998
Publication date： Aug. 27, 1999
Summary：
【要約】【課題】 スケーラブルなマルチスライス・コンピュータ断層撮影システムのための高密度半導体アレイを提供する。【解決手段】 半導体アレイは横列および縦列に配列された複数のフォトダイオードを含む。シンチレータ・アレイが半導体アレイに光学的に結合される。各フォトダイオードは各シンチレータの光出力を表す低レベル・アナログ出力信号を生成する。この半導体アレイによって、CTシステムが回転する毎に電気的に伝送されるべきデータのスライス数を選択することが可能になる。
Claim (excerpt)：
マルチスライス・コンピュータ断層撮影装置用の高密度半導体アレイであって、アレイとして構成された複数のフォトダイオードと、前記フォトダイオード・アレイに光学的に結合されたシンチレータと、を備える高密度半導体アレイ。
IPC (3)：
G01T 1/24 ,  A61B 6/03 320 ,  A61B 6/03 321
FI (3)：
G01T 1/24 ,  A61B 6/03 320 S ,  A61B 6/03 321 Q
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (15)
Show all
Cited by examiner (27)
  • X線CT装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-141877   Applicant：株式会社日立メディコ
  • 放射線検出装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-204492   Applicant：株式会社東芝
  • 放射線検出器
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-230949   Applicant：株式会社東芝
Show all

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM