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J-GLOBAL ID：200903080036694270

農産物の品質計測装置

Inventor：
石見 憲一

About 石見 憲一

, 
河端 真一

About 河端 真一


Applicant, Patent owner：
株式会社クボタ

About 株式会社クボタ


Agent (1)： 北村 修一郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001296967
Publication number (International publication number)：2003098081
Application date： Sep. 27, 2001
Publication date： Apr. 03, 2003
Summary：
【要約】【課題】 被計測物の内部品質を計測するのに適した電荷蓄積量を得ることができるようにしながら、暗電流に起因した計測誤差を極力少なくして精度よく内部品質を計測することが可能となる農産物の品質計測装置を提供する。【解決手段】 分光分析型の品質計測装置において、計測対象光が受光センサ25に入射することを許容する開放状態と、入射することを阻止する遮蔽状態とに切り換え自在なシャッター19が備えられ、受光センサ25が電荷蓄積動作を設定時間実行する電荷蓄積処理と、蓄積した電荷を送り出す送出処理とを設定周期で繰り返し、受光センサ25が電荷蓄積処理を行う状態にて、シャッター19を開放状態に維持する開放維持時間を変更調整する。
Claim (excerpt)：
計測対象箇所に位置する被計測物に光を照射する投光手段と、前記被計測物を透過した光又は反射した光を計測対象光として、それを分光する分光手段と、この分光手段にて分光した計測対象光を受光して分光スペクトルデータを得る電荷蓄積式の受光センサと、前記分光スペクトルデータに基づいて前記被計測物の内部品質を解析する演算手段と、各部の動作を制御する制御手段とを備えて構成されている農産物の品質計測装置であって、前記計測対象光が前記受光センサにて受光されることを許容する開放状態と、前記計測対象光が前記受光センサにて受光されることを阻止する遮蔽状態とに切り換え自在な入射状態切換手段が備えられ、前記制御手段が、前記分光した光を受光して電荷蓄積動作を設定時間実行する電荷蓄積処理と、蓄積した電荷を送り出す送出処理とを設定周期で繰り返すように、前記受光センサの動作を制御するよう構成され、且つ、前記受光センサが前記電荷蓄積処理を行う状態において、前記遮蔽状態から前記開放状態に切り換えてその開放状態を開放維持時間が経過する間維持した後に前記遮蔽状態に戻すように前記入射状態切換手段の動作を制御するよう構成され、前記開放維持時間を変更調整自在に構成されている農産物の品質計測装置。
IPC (4)：
G01N 21/35 ,  G01N 21/27 ,  G01N 21/85 ,  G01N 33/02
FI (4)：
G01N 21/35 Z ,  G01N 21/27 Z ,  G01N 21/85 A ,  G01N 33/02
F-Term (39)：
2G051AA05 ,  2G051AB20 ,  2G051BA06 ,  2G051BA20 ,  2G051CA02 ,  2G051CA03 ,  2G051CB01 ,  2G051CB02 ,  2G051CC15 ,  2G051DA01 ,  2G051DA06 ,  2G051EA08 ,  2G051EB01 ,  2G051EB02 ,  2G059AA01 ,  2G059AA05 ,  2G059BB11 ,  2G059CC20 ,  2G059DD12 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE12 ,  2G059FF08 ,  2G059GG10 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ01 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ07 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ23 ,  2G059KK01 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM05 ,  2G059MM12
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (5)
  • 光学的測定方法及びその装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-041944   Applicant：財団法人雑賀技術研究所
  • 表面疵検査装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-351376   Applicant：日本鋼管株式会社
  • 品質評価装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-207275   Applicant：株式会社クボタ
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