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J-GLOBAL ID:200903080204151988
溶液分析装置および溶液分析方法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (2):
橋本 剛
, 鵜澤 英久
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2006139604
Publication number (International publication number):2007309802
Application date: May. 18, 2006
Publication date: Nov. 29, 2007
Summary:
【課題】例えば水道水,環境水等の溶液や、土壌,食品,廃棄物等から溶出する溶液等を高感度および高精度で微量分析(例えば、微量金属イオンの測定)できるようにする。【解決手段】被分析対象1a中に作用電極(銅電極)2,対電極3,参照電極4を浸し、作用電極2の電位を所定電位に保持(電位保持工程)してから、作用電極2の電位を微分パルスモードにより掃引することにより、前記の作用電極2で析出された測定対象を被分析対象中に溶出すると共に、その作用電極2の電位変化に対する電流変化を検出(電位掃引工程)する。前記の電位掃引工程では、充電電流の減衰が十分ではない減衰十分位置以外(すなわち、減衰不十分位置)のサンプリング位置(例えば、23ms以内)にて電解電流をサンプリングする。【選択図】図1
Claim (excerpt):
少なくとも作用電極,対電極,参照電極から構成され、
測定対象を含んだ被分析対象中に前記の各電極を配置し、該作用電極の電位を被分析対象中の測定対象が析出し得る電位に保持でき、その保持された電位によって析出された測定対象が溶出し得る方向に微分パルスモードにより掃引でき、該作用電極における電位変化に対する電流変化を検出でき、100ppt以上レベルの被分析対象を分析することが可能な溶液分析装置において、
前記作用電極は銅電極であることを特徴とする溶液分析装置。
IPC (2):
FI (2):
G01N27/30 B
, G01N27/46 306
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
Cited by examiner (3)
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溶液分析装置およびその再生方法,溶液分析方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-184451
Applicant:北斗電工株式会社, 藤嶋昭
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特開昭51-126894
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溶液分析方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-233456
Applicant:藤嶋昭, 株式会社明電舎
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