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J-GLOBAL ID：200903080235153903

パターン識別のための特徴抽出装置

Inventor：
岡島 健治

About 岡島 健治


Applicant, Patent owner：
日本電気株式会社

About 日本電気株式会社


Agent (1)： 松本 正夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999283088
Publication number (International publication number)：2001101418
Application date： Oct. 04, 1999
Publication date： Apr. 13, 2001
Summary：
【要約】【課題】 パターン変動の影響を受けにくい、パターン識別のための特徴抽出装置を提供する。【解決手段】 学習パターン入力・記憶手段110から入力した入力パターンは、正規化手段122によって正規化された上で、特徴ベクトル抽出手段123によって部分空間群に射影され、各射影長から特徴ベクトルが算出され、パラメータ更新手段126は、特徴ベクトルの(クラス間変動/クラス内変動)比を大きくするように各部分空間の基底ベクトルを更新し、更新処理による学習が進むに従って各部分空間がパターン変動を吸収するように最適化され、学習終了時には高いクラス間変動とクラス内変動との比が実現され、パターン識別に適した特徴抽出が可能になる。
Claim (excerpt)：
識別対象である学習パターンを部分空間群に射影し、各部分空間への射影長の二乗を特徴ベクトルとして算出する特徴ベクトル算出手段と、前記特徴ベクトルの各成分のクラス間変動とクラス内変動との比を増加させるように、前記部分空間群を構成する各部分空間の基底ベクトルを更新するパラメータ更新手段とを少なくとも有する部分空間基底ベクトル学習手段を備えることを特徴とする特徴抽出装置。
IPC (2)：
G06T 7/00 ,  G06F 15/18 560
FI (3)：
G06F 15/18 560 C ,  G06F 15/70 465 A ,  G06F 15/70 460 B
F-Term (5)：
5L096EA45 ,  5L096FA70 ,  5L096HA11 ,  5L096JA11 ,  5L096KA04
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (2)

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