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J-GLOBAL ID:200903080351000464
イオン分離装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (5):
社本 一夫
, 増井 忠弐
, 小林 泰
, 千葉 昭男
, 富田 博行
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2002512998
Publication number (International publication number):2004504696
Application date: Jul. 10, 2001
Publication date: Feb. 12, 2004
Summary:
イオン分離装置(600)は質量分析器(36)に連結されたイオン出口を有する少なくとも第1のイオン移動度検出器(34)に連結イオン源を含む。1つの実施例において、イオン源はイオンをイオン保留時間等の分子特性に従って時間的に分離するように動作可能な分子分離装置(602)を含む。かくしてこの装置は保留時間、イオン移動度及びイオンの質量/電荷の関数として時間的に分離された分子の情報を与えるように動作可能である。他の実施例において、イオン分離装置はイオン源と質量分析器との間にカスケード状に配置された第1及び第2のイオン移動度装置を含み、ここで2つのイオン移動度装置はイオンをそれぞれ異なるイオン移動度の関数に従って時間的に分離するように動作可能である。例えば、2つのイオン移動度装置は異なる飛行管の長さを有し、異なる温度で動作し、異なる電界の存在する状態で動作し、及び/または異なる気体の存在する状態で動作するようにしてもよい。かくしてこの装置はイオン移動度とイオンの質量/電荷との少なくとも2つの異なる関数に従って時間的に分離された分子の情報を与えるように動作可能である。
Claim (excerpt):
イオン塊を第1の分子特性の関数として時間的に分離することと、
上記第1の分子特性の関数として予め時間的に分離されたイオンの少なくとも一部をイオン移動度の関数として順次時間的に分離することと、
イオン移動度の関数として予め時間的に分離されたイオンの少なくとも一部をイオン質量の関数として順次時間的に分離することと、
の各ステップからなることを特徴とするイオンを時間的に分離する方法。
IPC (4):
H01J49/40
, G01N27/62
, H01J49/10
, H01J49/26
FI (5):
H01J49/40
, G01N27/62 E
, G01N27/62 K
, H01J49/10
, H01J49/26
F-Term (10):
5C038GG07
, 5C038GG08
, 5C038GH02
, 5C038GH05
, 5C038GH11
, 5C038GH13
, 5C038GH15
, 5C038HH02
, 5C038HH16
, 5C038HH26
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (8)
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特表平2-503354
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特公昭55-028018
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特表平2-503354
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特表平2-503354
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大気圧3次元イオントラッピングのための装置および方法
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2000-564041
Applicant:ナショナルリサーチカウンシルカナダ
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イオン移動度及び質量分析器
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2000-618721
Applicant:アドヴァンスト・リサーチ・アンド・テクノロジー・インスティチュート
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イオントラップ質量分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-027271
Applicant:株式会社日立製作所
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特開昭62-037861
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Article cited by the Patent:
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