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J-GLOBAL ID:200903080354396628

プラントの制御装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 新井 孝治
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001146144
Publication number (International publication number):2002341905
Application date: May. 16, 2001
Publication date: Nov. 29, 2002
Summary:
【要約】【課題】 スライディングモード制御が不安定となったときに、制御目標値への制御を継続しつつ、スライディングモード制御を安定化するための適切な処理を行い、スライディングモード制御の安定性を向上させる。【解決手段】 通常は、プラントへの制御入力Uslは、プラント出力と制御目標値との偏差の今回値e(k)及び前回値e(k-1)の組である偏差状態量を、切換関数値σが0となる切換直線上に拘束するための等価制御入力Ueq、偏差状態量を切換直線上に載せるための到達則入力Urch、及び外乱の影響などを排除し、偏差状態量を切換直線上に載せるための適応則入力Uadpの和として算出し(S207)、制御が不安定となったときは、等価制御入力Ueqを0とする(S208)。
Claim (excerpt):
スライディングモード制御によりプラントを制御するスライディングモードコントローラを備えたプラントの制御装置において、前記スライディングモードコントローラは、前記プラントの出力と制御目標値との偏差に基づく線形関数である切換関数の値を算出する切換関数値算出手段と、スライディングモード制御の安定判別を行う判別手段と、前記偏差に基づく偏差状態量を、前記切換関数値が0となる切換直線上に拘束するための等価制御入力を算出する等価制御入力算出手段と、前記偏差状態量を前記切換直線上に載せるための到達則入力を算出する到達則入力算出手段と、少なくとも前記等価制御入力及び前記到達則入力を加算することにより、前記プラントへの制御入力を算出する制御入力算出手段と、スライディングモード制御が不安定と判別されたときは、前記等価制御入力の絶対値を減少させる安定化手段とを備えることを特徴とするプラントの制御装置。
IPC (5):
G05B 13/00 ,  F02D 41/14 320 ,  F02D 45/00 370 ,  G05B 13/02 ,  G05B 13/04
FI (6):
G05B 13/00 A ,  F02D 41/14 320 C ,  F02D 45/00 370 B ,  G05B 13/02 D ,  G05B 13/02 T ,  G05B 13/04
F-Term (59):
3G084BA05 ,  3G084DA07 ,  3G084EA02 ,  3G084EA11 ,  3G084EB08 ,  3G084EB12 ,  3G084EB13 ,  3G084EB24 ,  3G084EB25 ,  3G084EC04 ,  3G084EC06 ,  3G084FA10 ,  3G084FA36 ,  3G301LA01 ,  3G301LC03 ,  3G301NA01 ,  3G301NA04 ,  3G301NA08 ,  3G301NA09 ,  3G301NB02 ,  3G301NB07 ,  3G301NC02 ,  3G301NC08 ,  3G301ND02 ,  3G301ND05 ,  3G301ND41 ,  3G301ND45 ,  3G301NE17 ,  3G301NE19 ,  3G301NE25 ,  3G301PA11Z ,  3G301PA14Z ,  3G301PF03Z ,  3G301PF16Z ,  5H004GA14 ,  5H004GB02 ,  5H004GB12 ,  5H004HA04 ,  5H004HA13 ,  5H004HB02 ,  5H004HB03 ,  5H004HB13 ,  5H004JA12 ,  5H004JB07 ,  5H004JB24 ,  5H004KA32 ,  5H004KA42 ,  5H004KA47 ,  5H004KA66 ,  5H004KA74 ,  5H004KB37 ,  5H004KC22 ,  5H004KC28 ,  5H004KC33 ,  5H004KC39 ,  5H004KC43 ,  5H004KC45 ,  5H004LA03 ,  5H004LA05
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)

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