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J-GLOBAL ID:200903080454639250
クロマトグラフィ/分光測定データの解析でデータビンニングを用いる方法
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (5):
川口 義雄
, 一入 章夫
, 小野 誠
, 大崎 勝真
, 坪倉 道明
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2004509381
Publication number (International publication number):2005528606
Application date: May. 30, 2003
Publication date: Sep. 22, 2005
Summary:
クロマトグラフィ/分光測定法、特に2次元多変量統計解析を用いる液体クロマトグラフィ(LC)/質量分析(MS)から得た3次元データを解析する方法がここに開示されている。LC部はサンプル中の分析物の分離を可能にする。このような方法から得られた情報は一般に保持時間(R)に依存する。この分析物はシステムを通って進行するとともに、LC/MSシステムのMS領域に入る。この分析物はそこでイオン化され、その後質量検出器がこれらイオン化種を検出する。この方法で入手した情報は一般に、対応するm/z値の強度として報告される。したがって、LC/MSシステムは少なくとも3個の情報を供給する。主成分分析(PCA)は、異なったサンプル間でこのタイプのデータの多変量解析を行う頑強たる方法である。しかしながら、一般に、PCA分析は2次元データだけを使用して行われる。したがって、LC/MS操作から得られるデータの少なくとも1つのパラメータが失われることが予期されるが、ここで開示した方法では、3つの数学的次元はすべて保存される。
Claim (excerpt):
(a)サンプルについてデータを得るステップ(前記データは少なくとも3つのパラメーターによって特徴づけられ、前記パラメーターの少なくとも1つは時間と相関関係にある。)、
(b)ステップ(a)からの前記データをビンニングして複数のビンニングされたデータ集合を形成するステップ(ビンサイズは時間パラメーターに基づいて選択され、前記データ集合におけるデータ点は残りのパラメーターの2つを用いて特徴づけられる。)、
(c)前記ビンデータ集合のそれぞれを整列されたビンデータ集合に変換するステップ(すべてのビンデータ集合は同じ数のデータ点を有し、および前記整列されたデータ集合における各第1パラメーターについて少なくとも1つのビンデータ集合がゼロでない第2パラメーターを有するように、ゼロの第2パラメータを有する整列データ点が前記ビンデータ集合に加えられる。)
(d)前記整列されたビンデータ集合を、1つの軸上の前記第1パラメータおよび第2の軸上のビン番号および交差部分に記録されたデータ点の前記第2パラメータにより揃えることにより2次元配列を形成するステップ、および
(e)ステップ(d)から得た前記データを2次元多変量統計解析にかけるステップ
を含む、2次元解析法を使用してサンプルから得た3次元データを解析する方法。
IPC (4):
G01N30/86
, G01N30/62
, G01N30/72
, G01N30/74
FI (4):
G01N30/86 G
, G01N30/62 E
, G01N30/72 C
, G01N30/74 E
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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質量分析方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-199856
Applicant:日本電子株式会社
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多成分混合スペクトルの解析方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-181712
Applicant:株式会社堀場製作所
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液体クロマトグラフ質量分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-166799
Applicant:株式会社島津製作所
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クロマトグラフ用データ処理装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-148442
Applicant:株式会社島津製作所
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特開昭63-308560
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Article cited by the Patent:
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